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STM32G0

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  • STM32G0B1 ADC 数据异常排查:参考电压 VREF + 低于 3.0V 的核心影响
    STM32G0B1 的 ADC 模块在低参考电压(VREF+)场景下易出现采样数据异常,核心原因是 VREF + 低于 3.0V 时,硬件校准无法完全补偿偏移误差,最大误差可达 50LSB(对应 20mV@12bit 分辨率)。本文基于 ST 官方 LAT1337 应用笔记,详解问题根源、测试验证过程及实操解决方案,帮你快速规避低参考电压导致的 ADC 精度问题。
  • STM32G0 STOP 模式 “唤醒失败” 排查:DMA 时钟错误关闭导致的异常解决
    STM32G0 系列凭借优秀的低功耗特性,广泛应用于汽车电子等需要频繁进入 STOP 模式的场景。但部分用户反馈,STM32G0B1 在模拟汽车频繁打火测试(72 小时连续工作)中,进入 STOP 模式后会出现 “无法唤醒” 现象 —— 屏幕无显示、外部中断无响应,看似低功耗唤醒故障,实际是 DMA 外设关闭流程不规范导致的系统卡死。本文基于 ST 官方 LAT1236 应用笔记,详解故障定位、根源分析及标准解决方案,适用于 STM32G0 全系列低功耗项目。
  • STM32G071 standby 模式退出后 SRAM 数据保留:问题解析与实操方案
    在 STM32G071 芯片的低功耗应用场景中,standby 模式因极致节能成为首选,但不少工程师在实际开发中会遇到 “配置 SRAM 数据保留后,退出 standby 模式仍丢失数据” 的问题。本文基于 ST 官方 LAT1278 应用笔记(Rev 1.0),从问题本质、排查逻辑到落地解决方案,系统拆解 STM32G071 standby 模式下 SRAM 数据保留的核心要点,为嵌入式开发提供可直接复用的技术指南。
  • STM32G0B1 待机模式意外唤醒深度解析:RTC 结构体未初始化的隐形坑
    STM32G0B1 待机模式(Standby)被意外唤醒的核心原因是RTC 时间结构体未完整初始化,导致随机值写入 RTC 控制寄存器(RTC_CR),触发内部唤醒线(WUFI),而非外部 WKUP 引脚触发。故障还可能伴随 PC13 引脚异常输出 1Hz 方波,仅断电重启可临时恢复,需通过规范结构体初始化彻底解决。
    566
    2025/12/31
  • STM32G0 单线串口帧错误终极解决:切换时序 + 配置双优化,告别电平冲突
    STM32G0 客制化单线串口(TX/RX SWAP 切换)出现帧错误,核心原因是TX/RX 切换时序过慢 + GPIO 配置不符合官方要求—— 发送完数据后,复杂函数调用导致未及时切到 RX 状态,STM32G0 端 GPIO 保持低电平,拉低对方(STM32L433)发送的起始位电平(低至 1.5V),触发停止位报错。解决方案:中断内直接操作寄存器快速切换,搭配 DMA 收发,无需修改兼容设计即可修复。
    842
    2025/12/23