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嵌入式3D 扫描仪机器视觉检查解决方案

2018/05/21
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此设计提供了一款嵌入式3D 扫描仪解决方案,将数码相机与 Sitara™ AM57xx 处理器片上系统 (SoC) 搭配使用,采集来自基于 DLP4500 的投影仪的反射光图形。3D 机器视觉通过采用嵌入式 3D 扫描仪,使用基于 DLP®技术的结构光技术进行 3D 机器检查。支持高达 4K fps 的结构光图案显示,演示高达 130 万像素摄像头采集 (60 fps)。可在 AM57xx 处理器 SoC 内执行已采集图形的后续处理,并计算物体的 3D 点云及其 3D 可视化。

系统设计框图:

特性:

采用基于 DLP 技术的结构光技术演示了 3D 机器视觉检查。
具有基于 Sitara AM57xx SoC 和 DLP Lightcrater 4500 的完全嵌入式 3D 机器视觉系统。无需 PC。
提供 3D 物体点云
演示了在 AM572x SOC 中利用集成型处理器内核和图形处理器来生成和呈现 3D 点云。
此参考设计在现有 EVM 上构建,包括所有需要的软件、文件和文档。 

附件内容截图:

  • 3D机器视觉检查硬件设计.zip
    描述:包括原理图和PCB源文件
  • 技术文档.zip
    描述:技术文档
  • BOM.zip
    描述:BOM

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