Supplyframe
Supplyframe XQ
Datasheet5
芯耀
Findchips
bom2buy
Siemens Xcelerator
关注我们
扫码关注
获取工程师必备礼包
板卡试用/精品课
设计助手
电子硬件助手
元器件查询
资讯
设计资源
技术前沿
产业研究
直播
课程
社区
企业专区
活动
搜索
热搜
搜索历史
清空
创作中心
加入星计划,您可以享受以下权益:
创作内容快速变现
行业影响力扩散
作品版权保护
300W+ 专业用户
1.5W+ 优质创作者
5000+ 长期合作伙伴
立即加入
推荐
文章
视讯
原创
推荐
电路方案
技术资料
原厂专区
实验室
新品发布
技术子站
电路分析
拆解
评测
产业推荐
产业地图
研究报告
供需商情
产业图谱
汽车电子
工业电子
消费电子
通信/网络
半导体
人形机器人
与非网论坛
NXP社区
RF社区
ROHM社区
ST中文论坛
企业中心
企业入驻
行业活动
板卡申请
首页
标签
ATE
ATE
加入交流群
扫码加入
获取工程师必备礼包
参与热点资讯讨论
类型
全部
方案
资料
文章
视讯
课程
直播
新鲜
热门
文章
查看更多
Vicor将展示如何使用高密度 DC-DC 电源模块提升ATE吞吐量
自动测试设备 (ATE) OEM 厂商发现,在努力跟上不断增长的创新的同时,降低“测试成本”变得非常艰难。ATE测试系统设计需要快速可靠地满足日益增长的集成电路需求,并最大限度地降低成本。Vicor将讲述如何在最小的面积内实现吞吐量最大化。 Vicor将于2025年12月6日在深圳举行的亚洲电源技术发展论坛上发表主题为“薄型DC-DC电源解决方案最大限度提升ATE吞吐量”的演讲。您将了解到如何为A
与非网编辑
289
11/26 09:12
OEM
Vicor
AI芯片驱动下,后道测试与先进封装设备需求迎来爆发(中)
自动测试设备(ATE)市场正随着AI芯片需求的增长而快速扩张。根据芯片类型的不同,ATE可分为存储测试机、SoC测试机、模拟/混合类测试机和射频测试机四大细分领域。在AI兴起的背景下,SoC测试机与存储测试机正加速放量。 一、测试设备市场迎来新机遇 从市场份额来看,SoC测试机和存储测试机已占据测试机市场的半壁江山。SEMI数据显示,2022年全球半导体测试机市场中,SoC测试机的市占率约为60%
屹立芯创-ELEADTECH
797
11/26 08:30
半导体
SoC
是德科技推出新型高功率系统就绪电源解决方案,应对日益严峻的电源验证挑战
全新紧凑型回馈式源载系统助力工程师应对现代测试环境中的复杂性、紧凑空间及可持续性需求 是德科技(NYSE: KEYS )宣布推出全新系列高功率系统就绪(ATE)系列电源,通过三款自动化测试设备产品系列扩展其功率测试产品组合:RP5900系列回馈式源载系统、EL4900系列馈网式直流电子负载以及DP5700系统就绪直流电源系列。这些新一代解决方案具备高密度、双向及馈网能力,并配备智能自动化软件,助力
与非网编辑
443
11/06 10:43
电源
是德科技
专业、可靠之选:深度解析Agilent E3633A可编程直流电源
在电子研发、生产测试和自动化系统集成领域,一台性能稳定、精准可靠的直流电源是保障工作顺利进行的关键设备。在众多品牌和型号中,Agilent E3633A 可编程直流电源凭借其卓越的性能和安捷伦(Agilent,现为是德科技 Keysight Technologies)一贯的优良品质,成为了工程师和实验室的经典之选。 Agilent E3633A 核心优势解析 Agilent E3633A 是一款双
方丰瑞
777
10/24 10:41
ATE
可编程直流电源
芯片ATE测试综述
ATE(Automatic Test Equipment),即自动测试设备,在电子元器件、尤其是半导体芯片的生产制造流程中扮演着不可或缺的关键角色。随着现代芯片集成度的不断提高以及功能的日益复杂化,对芯片测试的要求也水涨船高,ATE凭借其高效的自动化测试能力,不仅大幅提升了测试效率,更在确保产品质量、降低生产成本以及缩短研发周期等方面发挥了极为重要的作用,已经成为半导体制造行业不可或缺的核心设备之一。
志芯
4466
06/26 09:51
芯片测试
ATE
直播
查看更多
看回放
ADI 助力半导体自动测试设备 — ATE 产品介绍
亚德诺半导体
5907
2022/10/12
热门作者
换一换
芯广场
近期热疯了都在收内存芯片,囤存储芯片风险点有这些?
贸泽电子
从科幻到现实:预测性维护正在改写制造业的游戏规则
ZLG致远电子公众号
储能EMS控制器(3) — 储能系统如何做到快速接入全方位监控?
晶发电子
晶振是什么?一分钟带你读懂电子设备的“心跳器”
CW32生态社区
基于CW32的BLDC控制应用实例分析——I/O分配及主控电路设计
相关标签
ATE测试
CEATEC
MateBook