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  • 在探针卡层面进行集成,实现ATE系统中的可扩展LCR测量
    摘要 随着半导体测试向更高复杂性与并行度演进,多工位自动测试设备(ATE)和SiC/GaN测试对电感、电容和电阻(LCR)测量的需求不断提升。然而,传统的外接台式LCR仪表和基于线缆的设置难以扩展,而且会降低可重复性。本文介绍了一种嵌入式模块化LCR方案,并结合探针卡集成案例,说明了如何实现可扩展的并行LCR测试。文章最后展望了这种方案在未来ATE中的应用。 市场背景和应用趋势 近年来,在先进封装
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    06/16 11:22
    在探针卡层面进行集成,实现ATE系统中的可扩展LCR测量
  • 国产ATE测试标杆冲刺上市!
    上海季丰电子股份有限公司正式向上海证监局提交IPO辅导材料,标志着该公司在半导体质量技术服务领域迈向资本市场的重要一步。季丰电子成立于2008年,主营一站式技术服务,包括芯片验证、快速封装、ATE测试和可靠性认证。公司曾于2017年至2021年间在新三板挂牌,积累丰富经验。面对国内外竞争激烈和技术依赖进口的局面,季丰电子希望通过IPO增强资金实力、提升品牌影响力和优化治理结构,促进中国半导体产业链配套服务能力的升级。
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    01/28 15:23
  • ATE PCB高平整度:要求、必要性、行业痛点及一博解决方案
    ATE PCB板的平整度要求严格,核心指标包括翘曲率0.1%-0.2%,BGA区域焊盘高度差≤50μm,确保探针与焊盘可靠接触、信号精准传输和测试精度。行业难点在于材料、设计、工艺等多环节的应力与形变控制。一博通过设备、工艺与管控体系,将DUT Pad及整体平整度稳定控制在30μm内、整板翘曲≤0.3%。
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    01/27 10:10
  • Vicor将展示如何使用高密度 DC-DC 电源模块提升ATE吞吐量
    自动测试设备 (ATE) OEM 厂商发现,在努力跟上不断增长的创新的同时,降低“测试成本”变得非常艰难。ATE测试系统设计需要快速可靠地满足日益增长的集成电路需求,并最大限度地降低成本。Vicor将讲述如何在最小的面积内实现吞吐量最大化。 Vicor将于2025年12月6日在深圳举行的亚洲电源技术发展论坛上发表主题为“薄型DC-DC电源解决方案最大限度提升ATE吞吐量”的演讲。您将了解到如何为A
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    2025/11/26
  • AI芯片驱动下,后道测试与先进封装设备需求迎来爆发(中)
    自动测试设备(ATE)市场正随着AI芯片需求的增长而快速扩张。根据芯片类型的不同,ATE可分为存储测试机、SoC测试机、模拟/混合类测试机和射频测试机四大细分领域。在AI兴起的背景下,SoC测试机与存储测试机正加速放量。 一、测试设备市场迎来新机遇 从市场份额来看,SoC测试机和存储测试机已占据测试机市场的半壁江山。SEMI数据显示,2022年全球半导体测试机市场中,SoC测试机的市占率约为60%