芯耀
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测量膜厚是现代工业和科研中的一项关键质量控制手段，它通过精确监控涂层或薄膜的厚度，直接确保产品在光学、电学、机械防护等方面的预期性能（如手机屏幕透光性、芯片运行稳定性、汽车漆面防腐性），同时能有效控制生产成本、节约原材料，并保证大规模生产的产品一致性与可靠性，是从研发到制造过程中不可或缺的重要环节。理论说得再透彻，不如让我们看一个海伯森点光谱在实际测厚应用的案例。
检测需求
根据客户提供的测试需求，利用我们的点光谱进行样品镀膜厚度的测量。
检测原理
测试传感器选型
测试方案
圆形样品测试过程
测量镀膜位置1及实测值
测量基面位置1及实测值
测量镀膜位置2及实测值
测量基面位置2及实测值
测量镀膜位置3及实测值
测量基面位置3及实测值
圆形样品测试结果
长形样品测试过程
测量镀膜宽边1及实测值
测量基面1及实测值
测量镀膜窄边1及实测值
同理选择多组不同位置进行实测
长形样品测试结果
测试总结
1. 经过测量，圆形样品的镀膜厚度为0.0156mm，长形样品的宽边镀膜厚度为0.018mm，窄边镀膜厚度为0.0248mm
2.在实际测量中建议使用伺服控制载物移动平台，可以减小因测量轨迹变化和样品本身的翘曲度带来的测量误差
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