随着测试测量技术的不断发展,仪器仪表行业对高性能电压参考的需求日益增长。低温度漂移的电压参考对于精密应用至关重要。本文介绍了一种新型电路架构,旨在精确控制电压参考芯片表面温度,从而实现极低的温度漂移。
1. TPR70ULTC简介
1.1 描述
TPR70ULTC是一种超低温度漂移电压参考模块,可以在-40°C至80°C的环境温度范围内运行,同时通过精确控制芯片表面温度来实现其超低温度系数性能。
1.2 典型应用电路
电压参考芯片对温度敏感。为了进一步优化其漂移特性,该电路利用一个功率BJT加热PCB,为参考芯片创建“恒温环境”,从而实现超低漂移性能。
1.3 TPR70ULTC应用配置
TPR70ULTC支持在9V至16V下工作,并在环境温度范围-40°C至80°C内运行。可以设置TPR70ULTC的温度以达到0.2ppm/℃的目标温度漂移(本实验中设定温度为80°C)。
| 零件号 | 供电电压(V) | 设定 温度(℃) |
TC 目标(ppm) |
环境 温度(℃) |
|---|---|---|---|---|
| TPR70ULTC | 9~16 | 80 | 0.2 | -40~80 |
2. TPR70ULTC电路测试设置
测试控制系统的主要组成部分包括TPR70ULTC控制板、加热板、电源设备、监控仪器和烤箱,如图2-1所示。图2-2和图2-3分别展示了TPR70ULTC控制板和加热板的布局。图2-4显示了TPR70ULTC电路的PCB硬件。
3. TPR70ULTC规格
3.1 温度系数
温度系数定义为不同工作温度条件下输出电压的变化,单位为百万分之一每摄氏度(ppm/℃)。通常使用参考电压(VREF)在整个工作温度范围内最大值和最小值之间的差来计算温度系数。
TPR70ULTC在-40℃至+80℃的工作温度范围内表现出0.2ppm/℃的低温度系数。
3.2 热滞回
热滞回定义为设备经历一次或多次热循环后输出电压的偏移量,以百万分之一(ppm)表示。AA热循环被定义为从室温到最低温度,然后上升到最高温度并最终返回室温的过程(25℃到-40℃到+80℃并返回25℃)。
在TPR70ULTC的热滞回测试中,设备首先冷却到-40℃,然后加热到+80℃,最后返回到+25℃。输出电压的偏移可能是正的也可能是一负的。一般来说,应力会在两个或更多的热循环后稳定到最小值。对于TPR70ULTC,输出电压在第二个循环时就已稳定,如图3-4所示。
3.3 输出噪声
0.1-10Hz噪声。低频VREF噪声在0.1-10Hz带宽内指定为峰峰值(μV或ppm)。0.1-10Hz噪声主要由带隙单元中的器件和电阻器的闪烁(1/f)噪声引起,因此其幅度与VREF成线性关系。TPR70ULTC的0.1-10Hz噪声如图3-5所示。
在大多数情况下,通过在带隙输出端添加一个RC滤波器来解决这个问题,以便将一部分噪声传递到增益阶段。
宽带噪声通常指定为10Hz到10kHz带宽内的微伏均方根值。对于TPR70ULTC,这两种噪声类型中,宽带噪声不太麻烦,因为它可以通过在VOUT引脚上使用大旁路电容来缓解。
TPR70ULTC的宽带噪声如图3-7所示。
4. 结果与结论
本文介绍了一种基于TPR70ULTC电路架构的温度系数优化设计。这种设计实现了约0.2ppm/℃的极低温度漂移,同时保持了出色的总体性能。我们还可以提供具有0.1ppm/℃系数的更高性能解决方案。
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