3D

• 涂层材料在磨损试验后光学3D轮廓测量-3D白光干涉仪

  1 引言 涂层材料广泛应用于机械制造、汽车工业、电子设备等领域，其耐磨性能直接决定工件的使用寿命与运行可靠性。磨损试验是评估涂层耐磨性能的核心手段，而磨损后表面轮廓的精准测量则是量化磨损程度、解析磨损机理的关键环节。传统测量方法如接触式轮廓仪易对磨损表面造成二次损伤，且难以全面表征三维形貌特征。3D白光干涉仪基于光学干涉原理，具备非接触、纳米级精度、全视场三维成像的优势，为涂层磨损表面的精细化测量

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  03/24 13:07

  半导体 3D
• 光学薄膜光学3D轮廓测量-3D白光干涉仪

  引言 光学薄膜作为光学系统的核心功能材料，广泛应用于显示器件、激光设备、成像镜头、光伏组件等领域，其膜层厚度均匀性、表面平整度、界面轮廓完整性等3D轮廓参数直接决定光学透过/反射特性、器件性能稳定性及服役寿命。在光学薄膜制备（蒸镀、溅射、溶胶-凝胶、涂覆等）过程中，受沉积参数波动、膜层应力、基材平整度、环境颗粒污染等影响，易产生膜厚不均、表面划痕、局部凹陷、膜层剥离、界面混合等缺陷，导致光散射增强

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  03/21 08:36

  半导体 3D
• 工厂设备数据分散、监测困难？一套数字孪生+裸眼3D的解决思路

  走进某企业的智能制造指挥中心，站在大屏前，整座工厂的孪生体从屏幕中“走”出来：车间、装配产线、仓储区域，层次分明地悬浮在眼前；物料从仓库流向产线的路径，像血管中的血液一样清晰可见；实时数据不再是冰冷的数字，而是从每台设备上“生长”出来……这便是数峦云魔观3DS智慧工厂数字孪生立体监测系统创造的体验。 企业真实痛点 以上述企业用户为例，作为行业先锋，其智能工厂的系动画程度很高，但仍面临数字化困境。

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  03/19 14:18

  数字孪生 3D
• 增透膜光学3D轮廓测量-3D白光干涉仪

  1 引言 增透膜作为提升光学器件透光性能的核心功能涂层，广泛应用于镜头、光学窗口、激光元件等领域，其厚度均匀性、表面平整度、膜层轮廓完整性等3D轮廓参数直接决定增透效果、抗反射带宽及服役稳定性。在增透膜制备（蒸镀、溅射、溶胶-凝胶等）过程中，受沉积参数波动、基材平整度、真空环境污染等影响，易产生膜厚不均、表面划痕、局部凹陷、镀膜脱落等缺陷，导致光反射损耗增加、成像质量下降。传统二维测量方法难以完整

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  03/17 08:57

  半导体 3D
• 激光元件的表面缺陷光学3D轮廓测量-3D白光干涉仪

  1 引言 激光元件作为激光系统的核心组成部分，广泛应用于激光加工、激光通信、医疗激光等领域，其表面质量直接决定激光传输效率、抗激光损伤阈值及系统稳定性。在激光元件制备（研磨、抛光、镀膜）及使用过程中，易产生划痕、凹陷、凸起、镀膜缺陷等表面缺陷，这些缺陷会引发激光散射、吸收，导致局部能量聚集，进而降低元件使用寿命甚至引发元件爆裂。传统二维测量方法难以精准表征缺陷的三维轮廓特征，无法满足高精度激光元件

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  03/14 10:26

  半导体 3D
• 微通道光学3D轮廓测量-3D白光干涉仪

  引言 微通道作为微流控芯片、微反应器、冷却系统等精密器件的核心结构，其截面尺寸、深度、内壁平整度、通道均匀性等3D轮廓参数直接决定流体传输效率、反应稳定性及散热性能。在微通道制备（光刻蚀刻、激光加工、注塑成型等）过程中，受工艺参数波动影响，易出现截面畸变、内壁毛刺、深度不均、局部堵塞等缺陷。传统二维测量方法难以完整表征微通道的三维内部轮廓，且接触式测量易损伤通道内壁。3D白光干涉仪凭借非接触测量特

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  03/04 15:14

  半导体 3D
• 光学涂层表面粗糙度光学3D轮廓测量-3D白光干涉仪

  1 、引言 光学涂层作为光学器件的核心功能层，广泛应用于镜头、滤光片、激光元件等领域，其表面粗糙度直接决定涂层的光学透过率、反射损耗、抗激光损伤阈值及使用寿命。在光学涂层沉积（蒸镀、溅射、溶胶-凝胶等）过程中，受沉积参数波动、基材平整度、真空环境颗粒污染等影响，易形成纳米级表面起伏、微划痕或残留颗粒，导致光散射增强、成像质量下降。传统表面粗糙度测量方法多为局部点扫描，难以全面表征光学涂层全域表面形

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  02/28 16:31

  半导体 3D
• 薄膜的表面粗糙度光学3D轮廓测量-3D白光干涉仪

  1 、引言 薄膜材料作为半导体、光学、柔性电子等领域的核心基础材料，其表面粗糙度直接影响薄膜的光学反射/透射效率、电学接触电阻、涂层附着力及生物相容性。在薄膜沉积、抛光、改性等制备过程中，受工艺参数波动、基材杂质、环境颗粒污染等影响，易形成纳米级的表面起伏、划痕或凸起，导致器件性能衰减、服役寿命缩短。传统表面粗糙度测量方法多为局部点扫描，难以全面表征薄膜全域表面形貌，且部分接触式测量会损伤薄膜表面

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  02/26 13:55

  半导体 3D
• 石油钻探设备钻杆接头孔深光学3D轮廓测量-激光频率梳3D轮廓技术

  1 、引言 涡轮增压器轴孔是转子轴装配与动力传递的核心精密结构，其孔深精度直接决定转子轴配合间隙、同轴度及旋转稳定性，进而影响增压器的增压效率、动力响应速度及使用寿命。传统测量技术如接触式探针测量易划伤轴孔内壁的耐磨涂层，导致配合精度下降，且针对增压器壳体内部狭小空间内的轴孔存在可达性差的问题；超声测量受增压器壳体耐热合金材料的声衰减及轴孔台阶面反射干扰，测量误差难以满足精密增压器制造的检测需求。

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  02/26 13:45

  半导体 3D
• 薄膜的厚度均匀性光学3D轮廓测量-3D白光干涉仪

  1 、引言 薄膜材料广泛应用于半导体器件、光学涂层、柔性电子、光伏电池等领域，其厚度均匀性直接决定器件的光学性能、电学特性及服役稳定性。在薄膜沉积（溅射、蒸镀、涂覆等）过程中，受设备参数、基材平整度、环境因素影响，易出现局部厚度偏差，导致器件性能不均、良率下降。传统厚度测量方法多为单点或局部检测，难以实现全域厚度均匀性的精准表征，无法满足高精度薄膜制备的质量管控需求。3D白光干涉仪凭借非接触测量特

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  02/14 17:10

  半导体 3D
• 光学棱镜结构光学3D轮廓测量-3D白光干涉仪

  1 、引言 光学棱镜作为光通信、成像系统、激光技术等领域的核心光学元件，其棱边精度、棱角角度、表面平整度等结构参数直接决定光折射/反射效率、成像清晰度及光路稳定性。在棱镜切割、研磨、抛光等制备过程中，易出现棱边倒角偏差、棱角磨损、表面划痕、局部凹陷等形貌缺陷，严重影响光学性能。传统二维测量方法难以完整表征棱镜复杂三维结构的轮廓特征，无法满足高精度光学应用的质量管控需求。3D白光干涉仪凭借非接触测量

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  02/14 16:20

  半导体 3D
• 发动机缸体孔深光学3D轮廓测量-激光频率梳3D轮廓技术

  1 、引言 气动阀块孔是气动控制系统的核心流道结构，承担着压缩空气传输、阀组安装定位的关键功能，其孔深精度直接决定阀块装配密封性、气流控制精度，进而影响气动系统的响应速度与运行稳定性。传统测量技术如接触式探针测量易划伤孔壁、残留金属碎屑，可能导致气路堵塞或泄漏，且针对阀块内部密集交错的孔道存在可达性差的问题；超声测量受阀块铝合金/铸铁材料的声衰减及孔道界面反射干扰，测量误差难以满足精密气动系统的检

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  02/14 15:00

  半导体 3D
• 涡轮增压器轴孔孔深光学3D轮廓测量-激光频率梳3D轮廓技术

  1 、引言 发动机缸体孔是发动机燃油供给、润滑及冷却系统的核心通道，其孔深精度直接决定活塞运动协调性、油气混合效率及热管理效果，进而影响发动机的动力输出、燃油经济性及使用寿命。传统测量技术如接触式探针测量易划伤孔壁精密表面、残留金属碎屑，可能导致油路堵塞或部件磨损，且针对缸体内部密集分布的多类型孔道存在可达性差的问题；超声测量受缸体铸铁/铝合金材料的声衰减及孔道界面反射干扰，测量误差难以满足发动机

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  02/14 11:38

  半导体 3D
• 晶圆表面的纳米级缺陷光学3D轮廓测量-3D白光干涉仪

  1 、引言 晶圆作为半导体器件制造的核心基材，其表面质量直接决定芯片制备良率与器件性能。在晶圆切割、抛光、清洗等制程中，易产生划痕、凹陷、凸起、残留颗粒等纳米级缺陷，这些缺陷会导致后续光刻图案转移失真、薄膜沉积不均，进而引发器件漏电、功能失效。传统二维测量方法难以精准捕捉纳米级缺陷的三维轮廓特征，无法满足先进制程晶圆的严苛质量管控需求。3D白光干涉仪凭借非接触测量特性、亚纳米级分辨率及全域三维形貌

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  02/11 14:52

  半导体 晶圆
• 智汇云舟自研引擎重磅升级 开启空间智能新征程

  智汇云舟即将正式推出“孪舟”引擎 V5.3 版本。作为全栈自研的核心技术底座，此次升级聚焦国产化适配、场景拓展、性能优化三大核心方向，实现从园区到城市的全域覆盖、从可视到可计算的价值跃升，为用户提供更安全、更高效、更灵活的视频孪生解决方案。在技术深耕的道路上，云舟始终坚信，真正的核心竞争力源于自主创新。面对通用引擎的成熟方案，公司毅然选择打造适配业务特性、贴合 GIS 场景需求的自研引擎，在看似

  在路上01

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  02/11 13:00

  3D 空间智能
• 液压缸缸筒孔深光学3D轮廓测量-激光频率梳3D轮廓技术

  1 、引言 粒子加速器束流管道深孔是束流传输、聚焦及真空密封的核心关键结构，其孔深精度直接决定束流传输效率、轨道稳定性及真空密封性，进而影响加速器的加速性能与实验数据可靠性。传统测量技术如接触式探针测量易划伤管道内壁的精密镀膜，破坏真空环境适配性，且针对束流管道长行程、狭小空间内的深孔存在可达性差的问题；超声测量受管道无氧铜/不锈钢材料的声阻抗特性及长光程衰减影响，测量误差难以满足粒子加速器的超高

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  02/11 10:16

  半导体 3D
• 微透镜光学3D轮廓测量-3D白光干涉仪

  1 、引言 微透镜作为微型光学系统的核心元件，凭借高集成度、小尺寸、优异的光聚焦与成像性能，广泛应用于手机摄像头、AR/VR设备、光纤通信、医疗成像等领域。其光学3D轮廓（如曲率半径、球面度、表面粗糙度、高度等参数）直接决定光透过率、聚焦精度、像差控制及成像清晰度，对测量精度提出纳米级严苛要求。传统二维测量方法仅能获取局部尺寸信息，无法完整表征微透镜的三维形貌特征，难以满足高精度微型光学器件的质量

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  02/09 14:10

  半导体 3D
• 菲尼尔透镜螺纹的光学3D轮廓测量-3D白光干涉仪

  1 、引言 菲尼尔透镜凭借轻薄、大视场、低成本的优势，广泛应用于光学成像、太阳能聚光、激光准直等领域，其表面螺纹结构的轮廓精度直接决定光学聚焦效率、像差控制及成像质量。菲尼尔透镜螺纹多为微纳尺度的环形或螺旋形凸起/凹槽结构，传统二维测量方法仅能获取局部尺寸，无法完整表征螺纹的三维轮廓特征，难以满足高精度光学应用的质量管控需求。3D白光干涉仪凭借非接触测量特性、纳米级分辨率及全域三维形貌重建能力，可

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  02/07 10:05

  半导体 3D
• 深圳又出「隐形冠军」：激光雕刻机双雄格局，老大上市老二跟跑

  雷科技报道CES 2026展会期间，xTool展示其激光雕刻和切割机设备及其首款UV打印机原型机，计划今年二季度上市。xTool已向港交所提交招股书，拟主板挂牌上市。激光雕刻和3D打印工艺各有优势，在消费级市场形成互补。xTool凭借M1系列激光雕刻机成功打入市场，成为消费级激光雕刻机代名词。激光雕刻和3D打印设备适用于不同的制造场景，满足多样化需求。

  雷科技

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  02/06 09:15

  3D 激光切割
• 光刻胶的台阶高度测量-3D白光干涉仪

  1 、引言 PLC（平面光波导）作为集成光学领域的核心器件，其内部图形凹槽的深度是决定光传输路径、模式耦合效率及信号传输损耗的关键参数。在PLC制备过程中，光刻、蚀刻等工艺易导致凹槽深度出现偏差，过深会破坏波导芯层完整性，过浅则无法实现光信号的有效约束与隔离，直接影响器件性能。传统凹槽深度测量方法存在测量范围有限、易损伤器件表面等缺陷，难以满足PLC高精度检测需求。3D白光干涉仪凭借非接触测量特性

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  02/04 14:35

  半导体 光刻胶

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