AN4422, MPC5675K Test and Shadow Flash Parameters for ADC Self-Test, MBIST, and LBIST - Application Notes

2023/04/25 作者：恩智浦

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AN4422, MPC5675K Test and Shadow Flash Parameters for ADC Self-Test, MBIST, and LBIST - Application Notes

AN4422: The MPC5675K microcontroller offers a set of features to support functional safety applications. Memory, digital logic, and analog circuit integrity checking are part of the MPC5675K

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恩智浦NXP主要提供MCU、MPU、SoC、汽车处理器、连接芯片，核心产品/技术包括MCX MCU；在低空经济产业链中覆盖安全芯片、存储与接口芯片、计算与控制芯片、模拟与电源芯片。

恩智浦NXP主要提供MCU、MPU、SoC、汽车处理器、连接芯片，核心产品/技术包括MCX MCU；在低空经济产业链中覆盖安全芯片、存储与接口芯片、计算与控制芯片、模拟与电源芯片。收起

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