Matlab中的Simulink建模与仿真 西电PPT
上传时间:2019/03/21 资源大小:19.66MB
[摘要] 第一部分主要介绍系统仿真技术的基础知识,如果读者对动态系统仿真技术与MATLAB的相关知识都比较熟悉,则可以直接学习第二部分的内容,不过建议读者最好能够浏览一下第一部分的内容,或许你会有新的发现。
集成电路SoC信号处理ASIC设计资料
上传时间:2019/03/20 资源大小:3.82MB
[摘要] 自从1959年Robert Noyce和Jack Kelby各自独立发明了平面集成电路以来全世界的技术和经济发生了根本性的改观和变革。40多年来,集成电路本身已发生了惊人的变化,它经历了小规模(SSI),中规模(MSI),大规模(LSI)、超大规模(VLSI)等发展阶段,目前正步人系统芯片(S
微机电系统技术和集成电路有什么不同?一文读懂
上传时间:2019/03/19 资源大小:105.93KB
[摘要] 经过几十年的研究与开发,MEMS 器件与系统的设计及制造工艺逐步成熟,但产业化、市场化的 MEMS 器件的种类并不多,还有许多 MEMS 仍未能大量走出实验室,充分发挥其在军事与民品中的潜在应用,还需要研究和解决许多问题。究其原因,在于 MEMS 器件是属于多域值器件,与传统的 IC 器件相比
微纳器件及其应用-北京大学课件
上传时间:2019/03/18 资源大小:8.81MB
[摘要] 本课件主要内容:一、课程简介与要求、二、MEMS发展历史、三、MEMS创新世界、四、中国 PK 世界等
[摘要] 本书是为初学电子元器件的爱好者而撰写的实用书籍,介绍了电子元器件的种类、结构、主要参数、识别方法、检测方法。本书主要讲述的电子元器件有:电阻器、电容器、电感器、变压器、二极管、晶体管、晶闸管、场效应晶体管、集成电路、显示器件、表面组装元器件、电声器件、视盘机器件及各种开关、继电器、光耦合器、接
详解NAND Flash技术
上传时间:2019/03/11 资源大小:2.2MB
[摘要] 本章介绍了基本工作原理,并介绍了SSD应用中使用的浮栅NAND非易失性存储器的主要可靠性和扩展限制。 它进一步讨论了电荷捕获存储器单元作为NAND阵列中浮栅单元的潜在替代,并评估了未来3D存储器方法中两种存储器单元原理的潜力。
详解IDDQ测试
上传时间:2019/03/05 资源大小:707.82KB
[摘要] 基于稳态电流测试方法的IDDQ测试,因其故障覆盖率高,在集成电路中测试中得以广泛应用。IDDQ测试的概念比较简单,但实现并不容易,特别是当今SOC和深亚微米技术的影响使得其实现更为复杂,有必要作以全面、系统化的研究。
存储器BIST的优化设计方案
上传时间:2019/03/05 资源大小:47.15KB
[摘要] 在SOC中有许多嵌入式存储器内核需要测试,存储器BIST的优化设计是在峰值电流,IR降,组大小等约束下的区域,路由和测试时间等许多因素之间的权衡。
芯片测试-清华大学讲义
上传时间:2019/03/05 资源大小:1.21MB
[摘要] 清华大学芯片测试讲义,主要内容包括: 1.可测试性测试和设计的基础知识 2.组合测试生成 3.故障模拟 4.顺序测试生成 5.内存测试 6.可测性测量 7.可测试性设计 8.边界扫描 9.内置自检 10. IDDQ
使用空间分解技术减少测试时间的ADC静态测试方案
上传时间:2019/03/05 资源大小:208.26KB
[摘要] 本文提出了一种用于ADC静态测试的直方图BIST方案。 该方案利用时间分解技术和空间分解技术。传统的基于时间分解技术的ADC BIST方法可以降低测试硬件开销,但是它会产生大量的测试时间。对于amonotonic ADC,输出代码具有近似值。 与输入信号的比例关系。利用这种性质,提出了一种空间
电路方案