在摩尔定律逐渐逼近物理极限的今天,半导体行业正通过“超越摩尔”(More than Moore)的路径寻求突破。晶圆级封装(WLP)作为此路径上的关键技术,正在重塑芯片的形态与未来。它将封装与测试的环节前置到晶圆切割之前,使得最终的封装体尺寸几乎与芯片裸片等同,从而在智能手机、可穿戴设备、高性能AI计算卡等对空间极度敏感的应用中,成为实现极致微型化与高功能密度的核心引擎。 然而,这场微型化革命并非
在半导体先进封装向更高密度、更薄厚度、异质集成演进的浪潮中,Die Attach Film (DAF胶膜) 凭借其优异的工艺精度、超薄特性(可低至<10μm)和简化流程的优势,已成为芯片贴装不可或缺的核心材料。然而,其精密结构也带来了一个核心痛点——微米级气泡(Void)问题。尤其在追求极致集成的3D堆叠、超薄芯片(<50μm)、2.5D/3D封装等前沿领域,任何微小气泡都可能成为封装