芯耀
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EOS备注：
• 一般EOS定义：“由应用于半导体元件的电气条件超过限值而导致的损坏”。
• 破坏性水平取决于在一定时间内施加的能量量。
• EOS的损坏本身不是根本原因！
• EOS的损坏可能是连续故障机制的结果。
• 极端的损坏可能掩盖了根本原因的证据。
• 任何设备在某个时候都可能受到损坏。
• 不可行的是能够承受所有EOS威胁的设备（由于成本和物理限制/最大额定值）。
• 要确定根本原因，需要尽可能了解设备失败的条件。
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