微电子学中的微型化不可避免地导致寄生器件的意外出现。相邻的导电路径最终被一个非常窄的间隙分开,以至于无法正确地将它们彼此隔离。寄生隧道器件、双极晶体管和晶闸管最终会形成,每种器件都会引起其自身独特的异常行为。
寄生SCRs(可控硅整流器)的出现引起了已经研究透彻的固定问题。寄生双极晶体管的出现,如图1所示的"NPN寄生双极晶体管剖面",通常不太严重,但会在电池供电电路中引发一种特殊类型的问题。本文解决的就是这个问题。
这个问题在电池供电的存储器中表现为数据损坏:存储器阵列中的数据位无意中从1翻转到0,或者从0翻转到1。当负脉冲无意中应用于无意中形成的寄生双极晶体管的发射极时,导致其进入导通模式,并连接两条本来隔离的信号线时,就会引起这种情况。
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