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介绍
本技术说明提供了涵盖54ACT374器件QML-V-RHA鉴定的总电离剂量(TID)和单事件效应(SEE)的详细信息。它包括:
- TID结果高达300 krad(Si)
- SEE结果:
- 显示高达120 MeV-cm2/mg的单事件锁定(SEL)免疫，有效线性能量转移(有效LET)。
- 包括单事件暂态(SET)和单事件扰动(SEU)表征。
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介绍
本技术说明提供了涵盖54ACT374器件QML-V-RHA鉴定的总电离剂量(TID)和单事件效应(SEE)的详细信息。它包括:
| 器件型号 | 数量 | 器件厂商 | 器件描述 | 数据手册 | ECAD模型 | 风险等级 | 参考价格 | 更多信息 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| MC9S12A256CPVE | 1 | Rochester Electronics LLC | 16-BIT, FLASH, 25MHz, MICROCONTROLLER, PQFP112, LQFP-112 |
|
|
$32.12 | 查看 | |
| MK66FN2M0VLQ18 | 1 | NXP Semiconductors | FLASH, 180MHz, RISC MICROCONTROLLER, PQFP144 |
|
|
$48.66 | 查看 | |
| STM32F407IGT6 | 1 | STMicroelectronics | High-performance foundation line, Arm Cortex-M4 core with DSP and FPU, 1 Mbyte of Flash memory, 168 MHz CPU, ART Accelerator, Ethernet, FSMC |
|
|
$13.79 | 查看 |
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