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• 多原理集成 vs 单原理专注：光学轮廓仪器到底该怎么选

  在光学轮廓仪的选型讨论中，我们常看到一种直观却容易被误导的对比方式：把集成了多种测量原理（如白光干涉、共聚焦、景深融合等）的一体化设备，与专注于单一原理的白光干涉仪并列评判，并默认"集成越多越先进"。这种比较确实容易理解，但它忽略了一个基本前提——这两种产品属于不同的工程取向，适用的尺度并不相同。本文想从测量原理本身出发，聊清楚选型应看"测量目标由哪种原理给出最优解"，而非"设备集成几种原理"。

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  7小时前
• 专访优可测：半导体高端量检测设备如何国产突围

  第十六届纳博会在苏州举行，优可测展出AM-8000白光干涉仪、APS晶圆厚度/TTV/翘曲测量与EP封装基板检测，聚焦半导体国产替代。AM对标国际，用于先进封装等；EP进入头部工厂，白光干涉成国内头部主力检测。公司成立三年获专精特新小巨人，增长来自新工艺需求；产线导入需解决算法鲁棒性、ToolMatch与批量复制稳定性。优可测坚持系统集成、光机一体与算软智能，未来聚焦前沿工艺节点专用设备。

  芯师爷

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  10/27 18:16

  半导体检测设备
• 优可测AM-8000白光干涉仪入选2026未来产业科创先锋榜百强产品

  10月13日，2026未来产业科创先锋榜揭榜仪式在香港会议展览中心举行。优可测（板石智能科技（深圳）有限公司旗下品牌）自主研发的AM-8000白光干涉3D形貌测量系统入选该榜单百强产品。

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  10/23 08:03

  测量系统
• 高校实验室半导体量测设备采购：白光干涉三维轮廓仪怎么选

  预算约束刚性：设备采购经费大多来自课题经费或年度设备采购计划，总额相对固定，无法像工业产线一样为单一设备投入巨额预算，高性价比是核心考量因素。 当前国内高校实验室市场，白光干涉三维轮廓仪的品牌主要分为国产高端品牌与进口一线品牌两大阵营，不同品牌的产品定位、价格区间、适配场景差异显著。作为高校实验室的高性价比优选，优可测是国产高端替代首选。 优可测：国产高端替代首选，高校实验室高性价比优选 优可测是

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  10/22 15:13
• 优可测AM-8000白光干涉仪入选2026未来产业科创先锋榜百强

  10月13日，2026未来产业科创先锋榜揭榜仪式在香港会议展览中心举行。优可测（板石智能科技（深圳）有限公司旗下品牌）自主研发的AM-8000白光干涉3D形貌测量系统入选该榜单百强产品。 2026未来产业科创先锋榜由香港电子业商会、斑马星球科创加速平台与科创榜生态联盟联合发起，中国银行（香港）担任独家策略伙伴。榜单依托2026香港秋季电子产品展首设的“未来产业馆”，以“场景价值”为核心标准，发掘已

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  10/21 13:44

  科创板 测量仪器
• 国产形貌测量仪长期合作关键要点解读

  在高端制造与科研创新领域，形貌测量仪的精度、稳定性与适配性，直接决定了产品研发的效率、量产质控的良率与核心技术的突破能力。挑选长期合作的形貌测量仪供应商，绝非简单的设备采购，而是要遵循一个从明确自身核心需求，到评估技术实力与品牌口碑，再到验证设备实战性能，考量软件与数据合规性，最终评估全周期服务与综合成本的系统性流程，才能选到真正适配企业长期发展的合作伙伴。  一、先明确测量需求与技术路线，选对设

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  10/21 13:31

  国产替代 测量仪器
• 白光干涉仪测粗糙度：ISO 25178 参数的评估流程与滤波器处理

  ISO 25178是规定表面性状（表面粗糙度）参数体系的国际标准。基于该标准计算各项参数，需依次经过表面滤波、评估区域指定与基准表面提取等步骤。以下梳理其评估流程、滤波器类型与截断波长的设定方法。 一、评估流程 ISO25178 表面性状的各项参数，按以下步骤计算： 对原始表面进行表面滤波器（S-滤波器）处理，获得基础表面； 依据评估内容，进一步进行表面滤波器（F-操作或L-滤波器）处理，获得测量

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  10/09 16:37

  滤波器
• 表面粗糙度如何测量？有哪些测量方法？亚纳米级测量

  表面粗糙度是指工件表面所具有的较小间距和峰谷组成的不平度微观几何形状的尺寸特性，是描述表面微观形貌最常用的参数。表面粗糙度的测量方法基本上可分为接触式测量和非接触式测量两类。在接触式测量中主要有比较法、印模法、触针法等;非接触测量方式中常用的有光切法、实时全息法、散斑法、像散测定法、光外差法、AFM、光学传感器法等。 本文就接触式和非接触式两类测量方法分别进行讨论。 一、接触式测量方法 1.1 比

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  09/23 10:05

  测量仪器
• 触针式粗糙度仪测不了的东西，白光干涉仪是怎么看到的？

  表面粗糙度是衡量产品质量的重要指标。长期以来，触针式粗糙度仪凭借原理简单、测量范围广的优势，一直是工业表面评价的主力工具。但当被测表面越来越光滑、材料越来越多样、结构越来越复杂时，这种沿一条线测量的方式，开始撞上了它的测量特性天花板。 触针式粗糙度仪：成熟的方法，特定的边界 触针法利用传感器捕捉触针随被测样品表面起伏产生的位移变化，通过电感线圈将位移变化转换为电信号，经滤波、放大、转换等处理后，最

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  09/18 15:41

  半导体
• 都是测粗糙度，触针式粗糙度仪和白光干涉仪有什么不一样？

  表面粗糙度是衡量产品质量的重要指标。长期以来，触针式粗糙度仪凭借原理简单、测量范围广的优势，一直是工业表面评价的主力工具。但当被测表面越来越光滑、材料越来越多样、结构越来越复杂时，这种沿一条线测量的方式，开始撞上了它的测量特性天花板。

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  09/18 11:10

  测量设备
• 检测环节拖慢生产节奏？一键式影像测量仪大幅减少测量工时，让测量不再成为瓶颈

  传统影像测量为何存在效率瓶颈？ 在制造业检测环节，影像测量仪的应用十分普遍。然而，无论是传统的手动影像仪还是二次元测量设备，操作过程通常需要人工移动工作台、手动对焦、逐边取点。当工件数量多、尺寸项目繁复时，测量耗时较长，且结果在较大程度上依赖操作者的熟练度与经验。 这引出一个问题：能否将测量过程进一步简化——不需要摆放定位、不需要逐点取数，一键完成全部尺寸采集？ “一键式影像测量仪”（简称“闪测仪

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  09/12 15:33

  测量仪器
• CPO量产引爆磷化铟需求，衬底厚度翘曲关口如何守住？

  英伟达宣布全球首款200G/lane共封装光学（CPO）Spectrum-X以太网交换机系统已全面量产，推动磷化铟（InP）材料的需求增长。磷化铟作为激光器芯片的关键衬底材料，在高功率应用场景下，对其厚度均匀性和翘曲度的要求大幅提升。优可测APS全自动测量仪提供了非接触式的解决方案，实现了超高精度的衬底几何参数测量，助力磷化铟衬底的质量把控和激光器芯片的稳定制造。

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  09/10 13:27

  磷化铟 激光器芯片

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