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专注于为全球客户提供精密测量仪器与半导体量测设备。主推白光干涉仪、闪测仪、超景深显微镜、线激光传感器、点激光传感器、光谱共焦位移传感器、线光谱位移传感器、晶圆三维量测、封装基板3D自动检测设备等高精度测量产品。 收起 展开全部

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  • 检测环节拖慢生产节奏?一键式影像测量仪大幅减少测量工时,让测量不再成为瓶颈
    传统影像测量为何存在效率瓶颈? 在制造业检测环节,影像测量仪的应用十分普遍。然而,无论是传统的手动影像仪还是二次元测量设备,操作过程通常需要人工移动工作台、手动对焦、逐边取点。当工件数量多、尺寸项目繁复时,测量耗时较长,且结果在较大程度上依赖操作者的熟练度与经验。 这引出一个问题:能否将测量过程进一步简化——不需要摆放定位、不需要逐点取数,一键完成全部尺寸采集? “一键式影像测量仪”(简称“闪测仪
  • CPO量产引爆磷化铟需求,衬底厚度翘曲关口如何守住?
    英伟达宣布全球首款200G/lane共封装光学(CPO)Spectrum-X以太网交换机系统已全面量产,推动磷化铟(InP)材料的需求增长。磷化铟作为激光器芯片的关键衬底材料,在高功率应用场景下,对其厚度均匀性和翘曲度的要求大幅提升。优可测APS全自动测量仪提供了非接触式的解决方案,实现了超高精度的衬底几何参数测量,助力磷化铟衬底的质量把控和激光器芯片的稳定制造。

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