高压LED芯片(HV LED)是一种通过微晶粒串联集成技术,在单一芯片上实现高电压、低电流驱动的发光器件。其核心在于将多个微小LED单元(Cell)串联集成,形成高压驱动特性(通常工作电压20–100V),相比传统低压LED(3–4V),具有显著的能效和系统优化优势。在单一基板(如蓝宝石)上通过沟槽刻蚀(深度4–8μm)分割多个独立发光单元,再通过金属导线串联连接,形成高电压、低电流(如50V/20mA)的集成芯片。
关键技术包括:高深宽比沟槽刻蚀、绝缘层沉积(防止短路)、互连导线平坦化(确保连接可靠性)工作电压:可达35–100V(传统LED仅3–4V),电流降低至传统LED的1/10–1/20(如20mA vs. 350mA)驱动电路简化:高压特性可直接匹配交流电网(如220V),减少AC/DC转换环节,电源效率提升10–15%。沟槽刻蚀、绝缘层沉积工艺难度大,良率低于传统LED(成本增加15–20%)。基本工艺步骤类似传统LED芯片,但是工艺参数差别较大。
六块掩模版的图样
A.MESA
B.TCL
C. ISO isolation
D. MB metal bridge
E.PW
F.SiO2 passivation
8-25次试验一片
1.MESA- ICP 6min
| parameter | Base | ICP | Cl | Ar | Pressure |
| value | 80 | 120 | 30 | 30 | 0.60Pa |
Fig.1 The picture of wafer etched by ICP in 6 min.
The average thickness of SiO2 Hard Mask: 6671 Å
The MESA average depth after ICP: 12400 Å
Fig. 2 Photograph of remove SiO2 mask. Rough wafer 45 sec., smooth wafer 50 sec..
2.TCL
The thickness of ITO is about 250 nm.
Fig. 3 etched ITO four minutes
3.ISO
Fig. 4 Etched 30 minutes using ICP
Fig. 5 Remove SiO2(1um) after ICP 40 minutes
The graphic pattern of the wafer inclined to one side in this step.
最终芯片外观,然后激光切割。
该技术的难点是小chip之间需要完全刻蚀独立,然后用金电极串联,如何让电极跨越高深度的鸿沟而不出现悬空和断线。
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