本文基于圣邦微电子 ANC202404001 REV.C 应用札记,完整解读 Σ‑Δ(Delta‑Sigma)ADC 的底层原理、量化噪声、过采样、噪声整形、噪声调制、抽取滤波以及各类衍生变种架构。Σ‑Δ ADC 起源于积分型脉宽调制 ADC,模拟电路实现复杂度低,数字后处理部分灵活可配置;文档从基础量化噪声模型出发,依次解析一阶 / 高阶调制器、残量产生机制、梳状抽取滤波器,同时介绍 Zoom 局部放大、残量继承 SAR 预量化、斩波降噪、开关电容实现等工程变种,全部公式、模型、现象均来自原厂札记,适合模拟硬件、MCU 固件开发人员做器件选型与方案评估参考。
资料获取:Σ-Δ模数转换器(ADC)技术一览
1. Σ‑Δ ADC 总体概述
Σ‑Δ ADC 由Σ‑Δ 调制器 + 数值抽取滤波器两大核心模块构成。早期文献也会将该架构称为 Δ‑Σ ADC。
图 1 Σ‑Δ 型 ADC 顶层框图(来源:ANC202404001 REV.C) 查阅原厂 PDF 获取高清概念框图。
核心两大特征:
- 调制环节:在一段时间窗口内,让调制状态流与模拟输入信号持续交互;
- 数据输出:以 k×fs 过采样速率采集,经过抽取滤波后输出低速率有效量化结果。
Σ‑Δ ADC 具备大采样孔径、输出存在延迟的特点。采样孔径代表量化结果反映的是一段时间窗口内信号的综合效果,不是某一瞬间点的电压;采样孔径与输出延迟直接决定器件瞬态响应、幅频特性。
图 2 基于脉宽调制器实现的 Σ‑Δ ADC 功能框图(来源:ANC202404001 REV.C) 查阅原厂 PDF 获取完整电路框图。
以脉宽调制实现的原型电路做原理说明: 调制器状态流输出占空比 D 反映输入模拟量\(V_X\)偏离中心电压\(V_{COM}\)的程度。 \(D=0.5+\frac{V_X-V_{COM}}{2\times V_{REF}}\) 中心值归零条件下: \(V_X=2\times(D-0.5)\times V_{REF}\)
Sync 同步信号是该原型电路的关键,用于产生残量 r,功能等效早期方案的 dither 加扰电路,保证量化误差可以在量化台阶内均匀分布,该机制就是量化噪声调制。 本质原理:依靠多次采样统计平均,抵消正负交替的量化误差。
图 3 Σ‑Δ ADC 量化噪声分析通用抽象框图(来源:ANC202404001 REV.C) 查阅原厂 PDF 获取框图。
2 过采样、量化噪声整形与量化噪声调制
2.1 量化噪声与 ADC 分辨率基础模型
图 4 量化台阶、量化噪声示意图(来源:ANC202404001 REV.C) 查阅原厂 PDF 获取示意图。
量化台阶 q 就是 LSB 对应的模拟电压跨度;模拟信号被离散编码,带来的误差即为量化噪声。理想条件下,量化噪声在\(-q/2 \sim +q/2\)区间均匀分布,噪声方差: \(\sigma=\frac{q^2}{12}\)
N 位 ADC 正弦输入理想 SINAD 公式: \(SINAD=1.76+6.02\times N \quad(dB)\) 该公式建立在量化噪声完全随机均匀分布的前提。 多次采样平均后,噪声平均幅度按照 \(1/\sqrt{n}\) 下降;噪声总功率不会消失,只是短期统计偏差被平均抑制。
2.2 过采样与量化噪声整形对分辨率提升
图 5 采样过程对模拟信号频谱搬移示意图(来源:ANC202404001 REV.C)
奈奎斯特准则:采样频率至少 2 倍信号最高带宽。过采样就是使用远高于奈奎斯特频率进行采样。 单纯多次采样取平均:采样次数 n 翻倍,等效有效位数仅增加 0.5bit。
量化噪声整形:利用积分器 H (s),将量化噪声能量推向高频段;后端数字低通滤波滤除高频噪声,在基带内获得更高有效分辨率。传递函数简化模型: \(D_{X}= \frac{V_X}{f+1}+q_N \cdot \frac{f}{f+1}\) 当 f 趋近 0,量化噪声项被大幅抑制。 噪声整形不只局限低通 Σ‑Δ,同样存在带通型 Σ‑Δ 架构,针对高频窄带信号做噪声整形。
图 6 增加频谱示意的抽象结构框图(来源:ANC202404001 REV.C)
2.3 量化噪声调制、残量与丢码现象
量化噪声整形的前提:量化噪声必须均匀随机分布。 如果输入模拟电压稳定落在同一个量化台阶内部,多次采样输出编码完全不变,此时无论怎么平均滤波,都无法改善精度,噪声整形失效。
实现噪声均匀分布有两种实现路线:
- 早期方案:外部 dither 电路主动注入扰动噪声,代表器件 MAX110/111;
- Σ‑Δ 主流方案:锁存比较器 + Sync 时钟,利用时钟与过阈值时刻时间差生成残量 r。
图 8 翻转时间被时钟调制产生残量 r 示意图(来源:ANC202404001 REV.C) 查阅原厂 PDF 获取波形示意图。
实际信号越过阈值的时刻\(t_x\)处于两个锁存时钟\(t_{d‑1}\)、\(t_d\)中间,积分器会继续积分,产生残量 r;残量 r 带入下一轮积分循环,让量化误差在一个台阶内均匀分布,完成噪声调制。
重要负面现象:Σ‑Δ 调制器极性切换开关会带来丢码现象。零电平附近部分编码无法输出,本质是交越失真超过量化台阶;该问题可以通过残量继承 SAR 预量化架构进行缓解。
2.4 调制器阶数、收敛速度概念
图 10 三阶级联积分模型框图;图 11 噪声整形函数模值曲线(来源:ANC202404001 REV.C)
Z 域离散模型,一阶: \(D(z)=z^{-1} \cdot X(z)+(1-z^{-1}) \cdot Q(z)\) L 阶级联调制器传递函数: \(D(z)=z^{-1} \cdot X(z)+(1-z^{-1})^{L} \cdot Q(z)\) \((1-z^{-1})^{L}\)即噪声整形 NTF 函数,模值: \(|NTF(f)|=\big[2\cdot sin(\pi \cdot f/f_s)\big]^L\)
L 代表调制器阶数;阶数越高,低频基带量化噪声抑制越强;但是高频增益会急剧抬升。高阶 Σ‑Δ 必须配合额外增益限制,否则容易发生内部自激振荡。
3 抽取与滤波
过采样会产生海量高速比特流,抽取 Decimation(降采样)完成两件工作:①降低输出数据速率;②数字滤波滤除被整形推到高频的量化噪声。
主流实现采用滑动平均梳状滤波器(SINC 梳状滤波器),M 阶滑动平均 Z 域传递函数: \(y[n]=\frac{1}{M}\sum_{i=0}^{M‑1}x[n‑i]\) \(H(z)=\frac{1‑z^{-M}}{M(1‑z^{-1})}\)
- 单级 SINC:存储资源小,但低频平坦度一般;
- 多级级联梳状滤波器:改善通带平坦度,形成梳齿状陷波,也叫分段预采样;
- trade‑off:滑动平均阶数 M 越大,滤波效果越好,但输出延迟会随之增加。
工程落地解读:Σ‑Δ ADC 输出速率、噪声性能、延迟三者互相制约,不能单独追求更高有效位数而忽视响应延迟指标。
4 Σ‑Δ ADC 常见变种与工程改进方案
4.1 局部放大 (Zoom) Σ‑Δ 型 ADC
图 12 Zoom 局部放大 Σ‑Δ ADC 原理框图(来源:ANC202404001 REV.C)
工作流程:
- 使用 SAR 等高速 ADC 先做粗预量化,得到输入信号大致区间;
- DAC 将粗量化结果还原成模拟电压;
- 输入信号减去 DAC 输出,得到差值;
- 将差值送入 Σ‑Δ 调制器,只对小范围差值做高精度转换。
适用场景:大动态量程,但只需要对信号局部区间做精细测量(位移节距测量、弛豫过程采集)。 局限:全局量程精度受预量化 SAR、DAC 性能限制;仅差值部分拥有 Σ‑Δ 的高精度。
4.2 残量继承电容 DAC‑SAR 预量化 Σ‑Δ 型 ADC
在 SAR‑ADC 权电容阵列完成逐次逼近转换之后,电容阵列上会保留电荷残量;该残量直接继承给下一次采样周期,实现量化噪声调制。 相比 Zoom 架构,电路更加紧凑。
- 残量继承带来分辨率改善介于 \(\sqrt{n} \sim n\) 之间,优于单纯多次取平均;
- 缺点:SAR 预量化的微分非线性误差会耦合进入差值,后续依靠抽取滤波做均化抑制;
- 可人为提前终止逐次逼近,扩大残量范围,进一步均化非线性误差;
- 该架构可以缓解传统 Σ‑Δ 的零附近丢码缺陷。
4.3 斩波技术抑制失调电压与 1/f 噪声
Σ‑Δ 原型电路如果翻转基准电压,积分器的失调、1/f 噪声会直接混入量化结果。 改进方案:对输入信号做斩波,而不是翻转基准电压。
两次采样,信号极性翻转,失调与 1/f 噪声极性同步翻转;两次结果做平均,就可以对消失调与 1/f 噪声,噪声则被调制到高频,由后端抽取滤波器滤除。 更高精度产品会同时对输入、基准双向斩波,进一步优化性能。
4.4 电容采样、开关电容积分量化器
使用开关电容架构实现采样、积分。 电阻会引入热噪声,电容理论无热噪声;开关电容方案降低信号源内阻带来的噪声贡献,是商用 Σ‑Δ ADC 主流模拟实现方式。
4.5 输入路径与量化器差分化设计
把单端输入改成差分架构:
- 扩大量化器动态输入范围;
- 改善积分非线性;
- Σ‑Δ 架构下差分实现的电路开销不会成倍增加,因此绝大多数商用高分辨率 Σ‑Δ 都采用差分输入。
4.6 变更滤波器实现不同抽取策略
滤波器不局限标准梳状 SINC 滤波器:
- 预置初始值,可以加快滤波器收敛速度,缩短建立时间;
- 针对高频窄带载波,使用高于带宽、低于载波频率采样,滤波器做内积运算,直接提取幅度相位信息。
本质:只要具备噪声调制 + 抽取滤波,都可以归类广义 Σ‑Δ 信号处理体系。
图片获取说明:文中图 1、图 2、图 3、图 4、图 5、图 6、图 8、图 10、图 11、图 12 框图、曲线,请下载圣邦微电子 ANC202404001 REV.C 原始 PDF 查阅高清原图。
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