关于磨损失效机制的应用说明

2023/11/01

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一般情况下，功率半导体器件的整体可靠性用图1所示的“浴盆”曲线表示。设备的磨损阶段与应用中运行负载条件下物理损伤的一般积累有关。设备性能的主要变化与机械磨损有关，这是由于外壳中组件的热膨胀系数的差异造成的。由于零件的膨胀和收缩，模具表面可以显示出明显的“擦洗”。如图2-4所示，擦洗可能导致在这些组分界面处形成金属间化合物。然后，积聚会导致导通状态、VT或正向电压、VF特性的变化，以及长时间内结漏电流的变化。

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