我第一份工作是在国内某晶圆厂里做CVD工艺工程师,所以最早也是最频繁使用到的量测设备就是膜厚量测设备(除此以外就是参杂浓度量测设备了)。当时的光学膜厚量测设备的原理比较简单,所以我也一直习惯性以为这个领域技术难度不是很高
但后来和行业专家交流以后,才知道针对各种类型的薄膜,要保证量测的精度,技术上也不是那么容易。尤其是下层薄膜也是透明膜时,薄膜间的界面的区分和处理也是难点...
所以今天就顺手整理一个膜厚的量测设备供应商数据:包含介质膜和不透明金属膜两大类,四种技术路径。
以下为-Ray量测技术的英文对照:
X射线反射率 XRR : X-ray Reflectivity
X射线荧光光谱分析 XRF: X-ray Fluorescence
完整版量检测设备信息原始EXCEL文档《全球设备部件供应商及产品统计》,我已经放到了知识星球的云盘上供会员使用。如果您对此类数据有兴趣,欢迎加入我的知识星球后获取 -- 文章最后有加入方式
以下为原始表格截图:包含161家供应商、50类设备信息
我目前收集了近十年的行业数据已经覆盖了八成以上半导体制造上游的供应链,还有大量的原创行业景气度数据分析和研报。现在所有数据原始文档都贡献出来,给你个一锅端走的机会(云盘直接同步我电脑硬盘随时更新)另外还有大量的线上半导体知识讲座
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