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一个改善EMI的堆锡孔

2022/12/08
1443
阅读需 2 分钟
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公众号:硬件大熊

最近在交流群里讨论了一个技术问题——

如下这款灯板中,有一个堆锡孔,该堆锡孔的作用是?

一开始以为是为把锡漏下去和铝基板接触以达到改善EMI性能的作用,然而拆开之后发现铝基板和外壳之间还隔着一个塑胶件,锡根本无法和铝基板接触,更何况即使接触了,也会导致安规上的耐压测试失效,

辗转各位群友的交流之后,终于有大佬提供了答案:

在网上搜索了一圈,还发现一篇发明型专利,其中也提到了类似的做法,

于是,这个问题有了参考答案:

问题背景:

由于铝基板的构造是铝上面覆盖一层导热胶,再在导热胶上敷铜,铜箔与铝之间很近,就会形成耦合电容。由于方案是开关方案,开关信号会通过耦合电容,耦合到铝基板上,再通过耦合电容直接耦合到输入端,这样容易造成EMI超标

解决方案:

使用堆锡孔,将PCB上的GND和铝基板做充分的接触,使两者连通直接成为更大面积的GND,避免铜箔余铝直接形成耦合电容

工艺:

堆锡孔工艺顺序:铆钉--->刷锡膏--->打贴片

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C3216X5R1E476M160AC 1 TDK Corporation of America Ceramic Capacitor, Multilayer, Ceramic, 25V, 20% +Tol, 20% -Tol, X5R, 15% TC, 47uF, Surface Mount, 1206, CHIP, ROHS COMPLIANT

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