7月22日,韩国半导体产业协会在京畿道城南市召开"商用半导体技术创新论坛"。三星电子DS事业部半导体研究院未来技术组执行副总裁金大宇在演讲中指出:"当HBM堆叠层数突破16层时,传统热压键合(TC)技术将面临瓶颈",并透露"公司计划自16层HBM产品起采用混合键合方案"。
HBM作为新一代高性能存储器,通过垂直堆叠多个DRAM芯片来显著提升数据传输效率。其中键合工艺是实现DRAM互联的关键制程环节,而TC键合设备则是HBM生产的核心装置。
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面对HBM技术迭代带来的层数增加挑战,业界亟需解决芯片堆叠间距缩小的技术难题。在此背景下,混合键合技术因其独特的结构优势受到广泛关注。该技术摒弃了传统的微凸点连接方式,转而采用铜对铜直接互连,能有效降低HBM模组的整体厚度。
据三星电子披露,其第七代HBM产品"HBM4E"(16层)将采用TC键合与混合键合并行的技术路线,而到第八代"HBM5"(20层)时将全面转向混合键合量产方案。
当前市场主流产品为第五代"HBM3E",最高支持12层堆叠。行业分析认为,现有技术路线将延续至第六代16层"HBM4",而革命性的技术升级将从第七代产品正式启动。
副总裁金大宇强调:"当互联间距缩小至15微米以下时,无焊料混合键合将成为必然选择",并补充道"该技术还具有优异的散热性能,目前我们正在加快推进相关研发工作。"
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