尼得科精密检测科技株式会社(以下简称“本公司”)将参展2026年2月11日(周三)~2月13日(周五)于韩国首尔COEX会议中心举办的“SEMICON KOREA 2026”。
本次展会将展出助力下一代功率半导体(IGBT/SiC)市场的检测设备“NATS系列”以及汇总了集团技术的最新检测解决方案。

本公司子公司尼得科SV Probe将首次在韩国展出晶圆检测夹具“探针卡”的最新解决方案,包括可实现半导体器件温度测量的TC(Thermo Couple:热电偶)探针,以及采用2D MEMS技术的探针卡等产品。
此外,我们还将展示本公司核心产品半导体封装基板电气检测系统“GATS系列”的最新机型。
〈参展概要〉
- 展期:2026年2月11日(周三)~2月13日(周五)
- 会场:首尔市 COEX会议中心
- 展位:1楼Hall Grand Ballroom G004
- 官网:https://www.semiconkorea.org/en
〈展品及Panel展示内容〉
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