答案:前提是运放工作在线性区(闭环负反馈)。实际限制包括:输入失调电压、偏置电流、有限开环增益和带宽,导致虚短不严格成立。
二、问题:电压跟随器的输入阻抗为什么高?跟同相放大器比带宽谁更大?
答案:输入阻抗高是因为信号直接加到运放的同相输入端,输入阻抗接近运放本身的差分输入阻抗(兆欧级)。电压跟随器的带宽通常比同相放大器大,因为其增益为1,增益带宽积固定时带宽最大。
三、问题:无源晶振的负载电容怎么匹配?PCB走线引入的寄生电容如何估算?
答案:负载电容按规格书要求匹配:CL = C1*C2/(C1+C2) + Cstray。通常C1=C2=2×(CL - Cstray)。PCB走线寄生电容可估算为每厘米约0.5~1pF,具体取决于线宽和间距。
四、问题:单片机I/O驱动能力不足,除了加缓冲器还能怎么办?
答案:可选用多个I/O并联输出(需同相),或使用外部晶体管/MOSFET扩流,也可改用开漏输出加外部上拉电阻(仅适用于低速信号)。
五、问题:寄生电容在高频电路的主要危害?举三种降低寄生电容的布局方法。
答案:主要危害包括:信号衰减、延迟增加、引入串扰和EMI。三种方法:①减小平行走线长度;②增大走线间距;③在关键信号两侧加地线隔离(或用地平面包围)。
六、问题:I2C总线多从机长距离传输,上拉电阻阻值如何计算?
答案:上拉电阻最小值由电源电压和IO口最大灌电流决定(Rp_min = Vcc/I_max)。最大值由总线电容和上升时间决定(Rp_max = tr / (0.847×Cb))。通常取2kΩ~10kΩ。
七、问题:MOSFET的阈值电压受哪些因素影响?高温下会升高还是降低?
答案:受栅氧化层厚度、衬底掺杂浓度、温度、体效应等影响。高温下阈值电压降低(对于NMOS),因为本征载流子浓度增加,反型层更容易形成。
八、 问题:共模抑制比在高精度测量中不够大会造成什么后果?
答案:共模信号(如电源噪声、地弹)会被放大器转换为差模输出,导致测量误差。例如在桥式传感器中,共模电压变化会直接叠加到有用信号上,降低信噪比。
九、问题:通信设备或工业控制中,DC-DC和LDO怎么根据负载、纹波、效率来选?
答案:大电流 (>500mA)、高压差 (>2V) 时选DC-DC,效率高但纹波大;小电流、低压差、低噪声场合选LDO。对纹波敏感的射频/模拟电路,DC-DC后需加LDO二次稳压。
十、问题:晶振的相位噪声和抖动是什么关系?PCIe Gen5对时钟抖动的要求大概多少?
答案:相位噪声是频域表征,抖动是时域积分。抖动 = ∫(相位噪声) 在特定频段内的积分结果。PCIe Gen5要求时钟抖动 < 0.5ps RMS(典型值)。
资深工程师不仅要会解决问题,更要理解问题背后的物理原理和系统级影响。您答对了几条,欢迎评论区聊聊。
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