电源管理芯片之凯智通电源模块测试座定制方案

当你打开手机，会发现AI对话、生图、智能问答等生成式浪潮的 AI 服务已悄然渗透到我们的生活中，而支撑当下生成式AI浪潮的，不只是 GPU 算力，还有AI服务器上承载大模型云端的电源管理芯片。

电源管理芯片（PMIC），是整套电子设备负责电能的转换、分配、稳压、保护的电力管家。

无论是精密电力管控的AI 服务器和汽车电子等大功率设备，还是在手机充电器、蓝牙耳机、电脑电源、家电主板等消费电子产品中都藏着它的身影。可以说，只要有电的地方，就需要电源管理芯片。

电源管理芯片主要分为AC-DC、DC-DC、 栅驱动芯片、 PFC 芯片 、PFM/PWM 芯片、LDO 芯片、充电管理芯片接口、热插拔芯片8 大类。

随着 AI 算力、新能源行业飞速发展，PMIC 电源芯片可靠性测试标准越来越严格。不同类型 PMIC 在 ATE 可靠性筛选中，需要匹配对应特性的 DPS 电源通道供电，才能精准筛选出芯片潜在缺陷。在 ATE 老化方案中，DPS、DNU、DNQ三类电源通道，分别适配不同老化场景，搭配相应的IC测试座/老化座完成芯片验证。

1.DPS 标准电源板卡：多用于DC 参数、功能精密测试。开展老化测试时，可切断反馈环路切换至开环输出，实现存量 ATE 设备改造复用，适合中小功率电源芯片老化验证。

2.DNU 原生开环电源通道：无内置稳压闭环控制，稳态持续载流能力强，是长时间满载稳态老化的优选，可降低板卡自身故障概率。

3.DNQ 瞬态电源通道：支持切换直通模式，通道寄生电感低，可模拟 GPU、AI 电源芯片这类动态跳变负载，用于芯片动态应力老化测试。

不同类型电源管理芯片，封装种类多，测试需求差异很大：LDO、PWM、充电管理这类中小功率芯片，侧重 DC 参数与功能测试；栅驱动、AC-DC、车规级功率芯片，往往需要长时间老化 Burn-in 验证。

因此，电源管理芯片测试中具有非标类及特殊要求的测试座/测试治具的厂家非常常见，不同客户的芯片规格和测试需求也各不相同，对此，凯智通除提供标准化测试座外，还可提供电源模块测试座定制化方案，满足客户的个性化测试需求。

凯智通电源模块测试座产品，探针采用PD电镀工艺，不沾锡。可避免测试过程中锡渣堆积引发的接触电阻漂移、误测等情况。同时PD钯镍电镀镀层硬度高、耐磨耐腐蚀，具备良好的抗氧化、抗老化能力。

产品单pin可过7A电流，接触电阻≤50mΩ，阻抗最小能做到30mΩ，弹力≤15g（可按需定制探针弹力），探针机械寿命≥10万次，产品使用温度在-40℃～+150℃。

可根据需求定制气冷、风冷、水冷散热座头。匹配不同功率等级电源模块的热耗散需求，实现精准控温。

凯智通专利产品——气冷测试座，采用杠杆省力结构。内置压块开导热，外置散热管吹风散热+底板两侧孔散热设计，能通过压块上的导风槽使气流均匀扩散，有效带走芯片测试时产生的热量，散热性能强，不伤芯片。

针板可支持铜块+探针方案，依托铜块优异导电性强化过流能力，可过120A 大电流；能实现高密度测试，下 pin 针数可达14189，满足电源模块大功率、多引脚量产测试场景。

深圳凯智通微电子技术有限公司成立于2000年，是集研发、生产、销售于一体的中国最大芯片（IC）老化座生产厂商，凯智通（KZT&ANDK）也是全球老化座市场份额中唯一榜上有名的国产品牌，在2025年全球半导体、光电、汽车电子领域公认权威第三方调研机构Yole Group报告中显示全球市场份额位列第七。

公司专注研发各类芯片测试座、老化座、刀片微针模组、开尔文大电流夹具、Flash&Dram测试耗材，为客户提供芯片功能/老化测试和精密连接器测试专业解决方案。

如果您也想了解电源模块定制化测试座，或者有其他测试需求，欢迎评论留言和咨询，我们为您的产品测试保驾护航！