TCS3430工厂校准程序

该TCS3430是一种彩色环境光传感器，当原始数据乘以颜色校准矩阵 （CM） 时，它可以对环境光产生准确的 CIE 三刺激 （XYZ） 测量值。颜色校准矩阵可校正硅光吸收的局限性、漫射器、盖板玻璃和系统中光学堆栈的影响。但是，它不会针对扩散器、玻璃或设备中的零件变化进行调整。通过工厂校准程序，可以将这些变化的影响降至最低。虽然 CM 的计算在光学设计指南中有所介绍，但由于它用于校准过程，因此本文也将对其进行回顾。

工厂校准的目的是测量传感器、光学堆栈和扩散器之间的相对差异。然后，可以使用此差异来调整结果以获得更一致的结果。还有其他方法可以校准单位，例如将结果与“黄金”单位进行比较。本应用纪要中描述的程序独立于任何此类“黄金”单元，方法是将收集的数据与柯尼卡美能达CL200A等测光表进行比较。它也独立于应用程序中使用的 CM。

校准的相对差值是在 XYZ 色彩空间中计算的，而不是在原始数据输入上计算的。每个单元都在标准光源下测量;输出是使用根据校准光源数据计算的 CM 计算的，而不是使用最终应用中使用的 CM。然后将结果除以光源测光表数据，以提供单元之间的相对比较，可用于调整未来数据以提高精度。本应用说明将解释工厂校准程序，展示计算示例，并展示如何将结果应用于原始数据。