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本技术说明提供了54ACT00器件的总电离剂量（TID）和单粒子事件效应（SEE）的详细信息，涵盖了QML-V-RHA资格认证。其中包括： • TID结果达到300 krad（Si） • SEE结果：
- 显示单事件闩锁（SEL）免疫性，有效线能传输（effective LET）达到120 MeV-cm2/mg。
- 包括单事件瞬变（SET）和单事件干扰（SEU）的表征。
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扫码加入TN1120 技术说明 54ACT00辐射报告
本技术说明提供了54ACT00器件的总电离剂量（TID）和单粒子事件效应（SEE）的详细信息，涵盖了QML-V-RHA资格认证。其中包括： • TID结果达到300 krad（Si） • SEE结果：
| 器件型号 | 数量 | 器件厂商 | 器件描述 | 数据手册 | ECAD模型 | 风险等级 | 参考价格 | 更多信息 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| STM32F429NIH6 | 1 | STMicroelectronics | High-performance advanced line, Arm Cortex-M4 core with DSP and FPU, 2 Mbytes of Flash memory, 180 MHz CPU, ART Accelerator, Chrom-ART Accelerator, FMC with SDRAM, TFT |
|
|
$15.65 | 查看 | |
| MCF52258CAG66 | 1 | Freescale Semiconductor | MCF522XX 32-bit MCU, ColdFire V2 core, 512KB Flash, 66MHz, QFP 144 |
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$12.68 | 查看 | |
| PIC32MX575F512H-80I/PT | 1 | Microchip Technology Inc | 32-BIT, FLASH, 80 MHz, RISC MICROCONTROLLER, PQFP64, 10 X 10 MM, 1 MM HEIGHT, LEAD FREE, PLASTIC, TQFP-64 |
|
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$9 | 查看 |
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