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各半导体特气所属制程、危险属性及适用管材总览!

08/11 08:28
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按照芯片前道七大核心工序:薄膜沉积、干法刻蚀、离子注入掺杂、外延生长、腔体 / 晶圆清洗、光刻激光气体、基础载气 / 保护气进行分类,附带每一种气体、化学式、详细制程用途,同时区分氟系、硅源、金属前驱体、掺杂源、卤素气体等细分品类。

同时,各特气输送所用管材有:

316L‑EP:316L 不锈钢、内壁电解抛光 Ra≤0.15μm,半导体绝大多数高纯工艺气标配316L‑BA:光亮退火不锈钢,洁净度次于 EP,大宗惰性气体可用双套管:高危自燃 / 剧毒气体;内管 316L‑EP,外层保护套管 316L,夹层氮气正压或者负压检漏哈氏合金 C‑276 / 蒙乃尔 400:强卤素、湿态腐蚀气体PFA/PTFE(SEMI‑F57 高纯氟塑管):氟化氢、湿氯气等强腐蚀介质

一、薄膜沉积特气(CVD/PECVD/ALD/MOCVD,成膜工序)

负责生长氧化层、氮化硅、多晶硅、金属互连、阻挡层、低 k 介质等各类纳米薄膜

1. 硅系前驱气体

SiH₄ 硅烷:多晶硅、非晶硅、氧化硅、氮化硅薄膜沉积,最核心硅源;也用于外延、等离子体清洗;

危险属性:自燃、易燃、有毒,接触空气即可自燃

管材:316L‑EP 负压双套管,必须双套管负压检漏管路

SiH₂Cl₂ 二氯二氢硅 (DCS):硅外延生长、多晶硅薄膜、沟槽填充

危险属性:易燃、有毒、遇水水解产生腐蚀性氯化氢

管材:316L‑EP 双套管

SiHCl₃ 三氯氢硅:单晶硅外延层生长

危险属性:易燃、有毒、水解腐蚀

管材:316L‑EP 双套管

SiCl₄ 四氯化硅:二氧化硅绝缘层沉积、光纤半导体镀膜

危险属性:腐蚀性、遇水水解生成 HCl、低毒

管材:316L‑EP;潮湿工况选用哈氏合金 C‑276

Si₂Cl₆ 六氯乙硅烷:ALD 高级制程、高深宽比沟槽硅膜填充、先进逻辑芯片

危险属性:水解腐蚀、刺激性有毒

管材:316L‑EP

TEOS 正硅酸乙酯:常压 / 等离子 CVD 二氧化硅介质层,层间绝缘

危险属性:弱易燃、低毒、液态前驱气源

管材:316L‑EP

2. 氮化物、氧化物反应气体

NH₃ 氨气:和硅源反应生成Si₃N₄氮化硅(刻蚀阻挡层、钝化层、硬掩模);ALD 氮化膜

危险属性:剧毒、强腐蚀性、可燃,腐蚀铜、锌合金

管材:干燥高纯氨气‑316L‑EP;含水湿气工况‑PFA 氟塑管,禁用铜管路

N₂O 一氧化二氮:生成氮氧化硅 SiON、栅极氧化层、钝化介质膜

危险属性:助燃、轻微麻醉毒性

管材:普通 316L‑EP

NO 一氧化氮:栅极氮氧化处理、薄膜改性

危险属性:剧毒、易氧化生成二氧化氮腐蚀管路

管材:316L‑EP,管路严格隔绝空气

3. 金属互连 & 阻挡层前驱气体

WF₆ 六氟化钨:CVD 沉积钨金属,通孔、接触孔、钨互连导线,芯片最主流金属填充材料

危险属性:强腐蚀、有毒、遇水水解氟化氢

管材:干燥工况 316L‑EP;潮湿环境哈氏合金 C‑276

TiCl₄ 四氯化钛:钛金属、TiN 钛氮阻挡层沉积

危险属性:强腐蚀、遇水剧烈水解、有毒

管材:哈氏合金 C‑276 / PFA 管路

TDMAT 四二甲胺基钛:ALD‑TiN 阻挡层,先进制程铜阻挡层

危险属性:易燃、遇水反应、刺激性毒性

管材:316L‑EP

TaCl₅ 五氯化钽:TaN 钽阻挡层,铜布线阻隔铜原子扩散

危险属性:水解腐蚀、有毒

管材:哈氏合金 C‑276

4. 碳膜、低‑k 介质、其他沉积气

C₂H₂乙炔、C₂H₄乙烯:无定形碳硬掩模、碳化硅介质层

危险属性:易燃易爆

管材:316L‑EP 双套管

GeH₄锗烷:硅锗 SiGe 外延薄膜,晶体管沟道材料

危险属性:剧毒、自燃、易燃

管材:316L‑EP 负压双套管

SiF₄四氟化硅:掺氟氧化硅 FSG 低 k 绝缘层

危险属性:遇水水解 HF、强腐蚀、有毒

管材:干燥‑316L‑EP;湿气‑哈氏合金 C‑276


二、干法刻蚀特气(等离子刻蚀,图形转移核心工序)

依靠等离子体产生氟 / 氯活性自由基,精准刻蚀氧化硅、氮化硅、硅、金属、光刻胶硬掩模,分为氟基刻蚀、氯基刻蚀、溴基刻蚀三大类

1. 全氟类(PFC,刻蚀氧化硅、氮化硅、介质层)

CF₄ 四氟化碳:SiO₂、SiN 介质刻蚀、腔体清洗

危险属性:惰性、窒息性、低毒

管材:316L‑EP

C₄F₈ 八氟环丁烷:高深宽比沟槽刻蚀、存储芯片沟槽

危险属性:化学惰性、窒息风险

管材:316L‑EP

C₄F₆ 六氟丁二烯:先进制程高深宽比介质刻蚀、3D‑NAND

危险属性:轻微毒性、氟系有机物

管材:316L‑EP

C₂F₆六氟乙烷、C₃F₈八氟丙烷:氧化硅、氮化硅常规刻蚀

危险属性:惰性窒息气体

管材:316L‑EP

CHF₃三氟甲烷、CH₂F₂二氟甲烷:选择性刻蚀二氧化硅

危险属性:窒息、温室气体、低毒

管材:316L‑EP

2. 卤素气体(单晶硅、多晶硅、金属层刻蚀)

Cl₂氯气:单晶硅、多晶硅、铝金属布线刻蚀

危险属性:剧毒、强腐蚀性、强氧化性

管材:干氯气‑哈氏合金 C‑276;湿氯气‑SEMI‑F57 PFA 氟塑料管,严禁普通不锈钢长期输送湿氯

HBr 溴化氢:硅的高精度垂直刻蚀,晶体管栅极刻蚀,抑制侧刻

危险属性:剧毒、强酸性腐蚀、遇水强腐蚀

管材:干燥‑哈氏合金 C‑276;含水工况 PFA

BCl₃三氯化硼:铝、钛金属刻蚀;刻蚀前晶圆表面除氧化层

危险属性:剧毒、遇水水解 HCl 强腐蚀

管材:哈氏合金 C‑276 / 316L‑EP(严格无水)

HCl 氯化氢:硅片表面原生氧化层去除、硅刻蚀、腔体清洗

危险属性:强腐蚀、有毒;湿气腐蚀普通不锈钢

管材:干 HCl‑哈氏合金;湿 HCl‑PFA 管路

3. 通用刻蚀辅助气体

SF₆六氟化硫:硅、多晶硅快速刻蚀,腔体清洗

危险属性:化学惰性、窒息性

管材:316L‑EP

NF₃三氟化氮:介质刻蚀、刻蚀腔体原位清洗(最强腔体清洗氟源)

危险属性:强氧化剂、有毒、高温产生氟自由基腐蚀

管材:316L‑EP

O₂氧气:刻蚀辅助、光刻胶等离子体灰化去除

危险属性:强助燃,管路禁油脂

管材:316L‑EP,管路脱脂处理


三、离子注入掺杂特气(改变硅片导电类型,N 型 / P 型杂质注入)

P‑型(硼元素)、N‑型(磷、砷、锑),用于源漏区、栅极、阱区掺杂,绝大多数属于剧毒高危气体

P 型掺杂(硼杂质,空穴导电)

BF₃ 三氟化硼:最主流硼离子源

危险属性:剧毒、遇水水解 HF 腐蚀

管材:干燥环境 316L‑EP;湿气工况哈氏合金 C‑276

B₂H₆ 乙硼烷:硼掺杂,也用于薄膜硼元素掺杂

危险属性:自燃、剧毒、易燃易爆

管材:316L‑EP 负压双套管

N 型掺杂

PH₃ 磷烷:磷杂质注入,N 型轻掺杂

危险属性:顶级剧毒、自燃、易爆,半导体毒性最高一档气体

管材:强制316L‑EP 负压检漏双套管系统

AsH₃ 砷烷:砷重掺杂,晶体管源漏区

危险属性:剧毒、自燃、致癌高危气体

管材:316L‑EP 负压双套管

SbH₃ 锑化氢:锑重掺杂,高压器件

危险属性:剧毒、易燃、不稳定

管材:316L‑EP 负压双套管

GeF₄四氟化锗:锗元素掺杂、SiGe 工艺离子注入

危险属性:水解生成 HF、腐蚀性有毒

管材:干燥 316L‑EP,潮湿选用哈氏合金

有机掺杂前驱体

TEB 三乙基硼、TEPO 三乙基磷,稀释型掺杂气源

危险属性:易燃、有毒、遇空气易氧化

管材:316L‑EP


四、硅外延工艺特气(生长单晶硅外延层)

SiH₂Cl₂二氯二氢硅、SiHCl₃三氯氢硅、SiCl₄四氯化硅:单晶硅外延薄膜

危险属性:前文已述;水解腐蚀、可燃有毒

管材:316L‑EP;湿气工况哈氏合金

HCl 氯化氢:外延前硅片表面腐蚀清洁、控制外延生长速率

危险属性:强腐蚀、有毒;湿气腐蚀普通不锈钢

管材:干 HCl‑哈氏合金;湿 HCl‑PFA 管路

PH₃、AsH₃、B₂H₆:原位掺杂,生长带杂质的外延层

见离子注入,双套管管路


五、清洗类特气(腔体原位清洗 + 晶圆表面清洗)

1. 反应腔体等离子清洗(清除腔内壁氟化硅、聚合物沉积物)

NF₃三氟化氮:CVD 刻蚀腔体最主流清洗剂,高温分解氟自由基剥离沉积物

强氧化有毒;管材 316L‑EP

ClF₃三氟化氯:无等离子体、高温气相清洗钨沉积腔体

危险属性:超强氧化剂、剧毒、可燃烧大部分金属

管材:哈氏合金 C‑276 专用管路

SF₆、CF₄:辅助腔体清洗

管材:316L‑EP

2. 晶圆表面气相清洗

HF 氟化氢:气态去除硅片表面原生氧化层、湿法气相清洗

危险属性:极强腐蚀、剧毒、渗透灼伤

管材:只能选用 SEMI‑F57 PFA 高纯氟塑管道,不锈钢不可长期输送湿 HF

HCl 氯化氢:高温炉管内清除金属杂质、表面氧化层

哈氏合金 / PFA


六、光刻工序专用特气(DUV/EUV 准分子激光混合气)

Ne 氖气:ArF (193nm) 光刻机激光主体缓冲气体,占混合气 95%,光刻刚需核心材料

惰性高纯载气;管材 316L‑BA/EP

Kr 氪气、Ar 氩气:准分子激光激发介质;KrF‑248nm、ArF‑193nm 激光器

惰性稀有气体;316L‑BA/EP

F₂氟气:和惰性气体组成激光工作气体;EUV 光刻 also 使用氟系混合气

危险属性:最强氧化剂、剧毒、强腐蚀

管材:哈氏合金 C‑276 管路


七、大宗高纯基础气体(载气、保护气、吹扫、等离子体稀释)

He 高纯氦气:腔体冷却、气体载气、ALD 吹扫、检漏、光刻激光器

惰性,316L‑BA/EP

Ar 高纯氩气:等离子体稀释气体、溅射工艺、腔体惰性保护

惰性,316L‑BA/EP

N₂ 高纯氮气:管路吹扫、隔绝空气、晶圆输送保护、工艺稀释

惰性吹扫气;普通支路 BA、工艺管路 EP

H₂ 高纯氢气:外延还原、退火工艺、清除表面氧化层、钨沉积还原气氛

危险属性:极易燃易爆,爆炸区间宽

管材:316L‑EP 双套管、管路严格脱脂、设置泄漏监测


八、其他小众先进制程特气

ND₃氘代氨气:氮化硅氘掺杂,提升芯片器件寿命

腐蚀可燃;干气 316L‑EP,湿气 PFA

D₂氘气:晶体管氘钝化,抑制热载流子损伤

易燃易爆;316L‑EP 双套管,等同于氢气规范

CO 羰基硫 COS:铜布线阻挡层工艺

剧毒、可燃;316L‑EP 双套管

(CH₃)₂Te 二甲基碲:碲掺杂,特殊功率半导体

剧毒、易燃;316L‑EP 双套管

简易工艺‑气体对照表

工序 核心代表气体
薄膜沉积 SiH₄、NH₃、WF₆、TEOS、N₂O
干法刻蚀 C₄F₈、CF₄、HBr、Cl₂、BCl₃
离子注入 BF₃、PH₃、AsH₃
腔体清洗 NF₃、ClF₃、SF₆
光刻激光 Ne、Kr、Ar、F₂
外延层 SiHCl₃、DCS、HCl

管材选型总结表

气体危险类别 标配管材 备注
惰性 / 大宗气体 316L‑BA / 316L‑EP 氮气、氩气、氖气、氪气
普通可燃、沉积前驱体 316L‑EP TEOS、硅卤硅烷(无水环境)
自燃剧毒(硅烷、磷烷、砷烷、乙硼烷、锗烷) 316L‑EP 负压双套管 强制夹层检漏结构
干态卤素腐蚀气体(干氯气、三氯化硼、溴化氢) 哈氏合金 C‑276 严格管路无水
含水氟化氢、湿氯气 SEMI‑F57 PFA 氟塑管 氟塑料耐强酸腐蚀

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