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华盛顿大学,实现99.5%良率的磷化镓-金刚石量子平台!

1小时前
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金刚石色心是量子网络研究中的明星体系。硅空位(SiV)色心具有出色的光学与自旋相干性,是实现腔量子电动力学(cQED)量子网络的领先方案之一。
但问题也很明显:目前主流做法是直接在悬浮或薄膜金刚石上刻蚀光腔。这种工艺难度大,还容易引入表面缺陷、损害色心相干性。更关键的是,金刚石本身缺乏光学非线性,难以支撑可扩展量子光子处理所需的片上有源元件。

近日,华盛顿大学团队联合柏林洪堡大学团队,在 Optica Quantum 发表研究,题为“Efficient spin-photon interactions in a scalable nanophotonic platform”。
研究人员开发出一种新型混合光子平台,将量子发射器与光子器件相结合,可可靠调控光子与量子信息载体之间的相互作用。该芯片级平台由磷化镓(GaP)与金刚石衬底构成,实现了首个在可扩展混合集成 GaP-on-diamond 平台上单个 SiV 自旋量子比特的高协同度(C>1)耦合,有望实现量子器件远距离互联,助力量子网络走向实用化。

为什么是 GaP-on-diamond?

团队把光子电路做在键合到金刚石衬底上的 GaP 薄膜里,采用平面结构,全程无需刻蚀金刚石,从根源上避开了表面损伤问题。

GaP 的优势十分突出:高折射率(737 nm 处为 3.21)保证低损耗导光;大二阶非线性(χ⁽²⁾ = 110 pm/V)可支撑片上量子频率转换等有源器件;高声速对比度还让它成为集成声子学与腔光力学的潜力平台。

工艺层面,团队在一块 GaP 薄膜上制备了超过 4000 个光子晶体器件,再通过干法转印转移到 2 mm 金刚石芯片上,640 个器件成功转移 637 个,良率达 99.5%。实测平均工艺限制品质因子最高约 10⁴,部分器件 Q 超过 10⁴,大规模集成的可行性得到直接验证。

首次实现 C > 1 的高协同度耦合

在 4 K 温度下,团队观察到 SiV 色心与腔共振时的偶极诱导透明(DIT)现象。拟合分析显示,SiV 与腔的耦合强度 g/2π>2.1 GHz,协同度 C>1.37——这是该类平面混合平台首次突破高协同度门槛,已与当前单体金刚石腔量子网络实验相当。

同时,近表面 SiV 线宽接近寿命极限,说明色心品质并未因集成工艺受损。

在此基础上,团队利用磁场精准对准,测得 SiV 自旋弛豫时间 T1 达 419 µs(超过 0.4 ms),并通过腔透射实现了自旋态量子跳变的单次读取,保真度达 96%——这是构建量子网络节点复用器的关键前提。

对量子网络意味着什么?

论文指出,通过改进工艺和采用单端口临界耦合设计,品质因子有望提升 10 倍以上,将协同度推向 C>10。

更长远看,GaP 的强非线性可用于片上量子频率转换与压缩光协议,声子学模块可集成用于自旋操控;且因无需刻蚀金刚石,平台还可兼容 NV 色心等无反演对称性、性能更优的缺陷体系。

这项工作表明,GaP-on-diamond 有望成为下一代可扩展量子网络技术的核心平台。

图1. 腔结构设计。(A)GaP-on-diamond 腔设计示意图。(B)纳米梁中心处基模的模拟场分布。(C)SiV 色心沿垂直⟨111⟩轴取向时,腔中心处腔模重叠因子随深度 z 的模拟结果。灰色高斯曲线表示估算的注入 SiV 分布,平均深度 ⟨z⟩ = −20.0 nm,离散度 σ = 6.5 nm。(D)协同度 C > 0.1(橙色)、1(红色)和 10(紫色)的耦合 SiV 预期数量随总品质因子 Q 的变化。计算假设 SiV 面密度为 50 μm⁻²、本征辐射效率 γ₀/γ = 0.07。

图2. 大规模器件集成。(A)2 mm 金刚石芯片的光学图像;(B)16 组器件中一组的局部放大图。直通(thru)/下路(drop)器件分别以红/蓝框标出。(C)thru 器件与(D)drop 器件的 SEM 图像。图像中的纹理源于成像所用的金/钯镀层。(E)室温下的代表性透射光谱,主共振以灰色高亮标出。(F)全部实测器件(N = 321)的品质因子随耦合参数的变化,颜色亮度代表不同器件组。(G)室温下品质因子与共振波长的分布图。处于 740–742 nm 灰色区域内的器件,可在低温下调谐至与 SiV 色心共振。

图3. 高效自旋-光子界面。(A)外加磁场与对称轴成 α 角时,SiV 色心的能级结构与光学跃迁。(B)SiV 1 的透射与 PLE 光谱,可清晰分辨自旋守恒跃迁 C₂ 和 C₃。两端两个弱峰归因于其他 SiV 色心。(C)通过 SiV 1 的 PLE 测量获得的自旋弛豫曲线,插图展示脉冲序列。(D)腔透射与 PLE 信号随自旋态的切换。(E)腔透射的典型时间轨迹,展示对 SiV 自旋态量子跳变的单次读取(左);15 条时间轨迹的强度分布及双泊松拟合(右)。30 计数/单位处的虚线对应最优判别阈值,保真度 F = 96%。(F)量子跳变间隔时间的分布,符合指数分布拟合。

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