从全局出发,介绍:
1.测试以及DFT的基本概念、理论基础;
2.DFT工作在芯片设计中的位置;
3.测试一颗芯片的测试内容;
4.DFT的流程以及每步做的事情;
来自【爱芯人/QQ群187291154】
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1.测试以及DFT的基本概念、理论基础;
2.DFT工作在芯片设计中的位置;
3.测试一颗芯片的测试内容;
4.DFT的流程以及每步做的事情;
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| 器件型号 | 数量 | 器件厂商 | 器件描述 | 数据手册 | ECAD模型 | 风险等级 | 参考价格 | 更多信息 |
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| LM35CAZ/LFT4 | 1 | Texas Instruments | 1C high voltage analog temperature sensor, 10 mV/C 3-TO-92 |
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暂无数据 | 查看 | |
| DS18S20-SL+T&R | 1 | Maxim Integrated Products | Serial Switch/Digital Sensor, 9 Bit(s), 0.50Cel, Rectangular, 3 Pin, Through Hole Mount, ROHS COMPLIANT, TO-92, 3 PIN |
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$62.94 | 查看 | |
| TLV49645TBXALA1 | 1 | Infineon Technologies AG | Hall Effect Sensor, 2.8mT Min, 10.4mT Max, 0-25mA, Rectangular, Through Hole Mount, TO-92S, 3 PIN |
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$1.1 | 查看 |
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