从全局出发,介绍:
1.测试以及DFT的基本概念、理论基础;
2.DFT工作在芯片设计中的位置;
3.测试一颗芯片的测试内容;
4.DFT的流程以及每步做的事情;
来自【爱芯人/QQ群187291154】
从全局出发,介绍:
1.测试以及DFT的基本概念、理论基础;
2.DFT工作在芯片设计中的位置;
3.测试一颗芯片的测试内容;
4.DFT的流程以及每步做的事情;
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器件型号 | 数量 | 器件厂商 | 器件描述 | 数据手册 | ECAD模型 | 风险等级 | 参考价格 | 更多信息 |
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LM35DT | 1 | Texas Instruments | 1C high voltage analog temperature sensor, 10 mV/C 3-TO-220 0 to 100 |
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$3.23 | 查看 | |
26PCDFG2G | 1 | Honeywell Sensing and Control | Peizoresistive Sensor |
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$75.81 | 查看 | |
TC77-3.3MCTTR | 1 | Microchip Technology Inc | SPECIALTY ANALOG CIRCUIT, PDSO5, PLASTIC, SOT-23, 5 PIN |
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$1.32 | 查看 |