芯耀
从全局出发，介绍：
1.测试以及DFT的基本概念、理论基础；
2.DFT工作在芯片设计中的位置；
3.测试一颗芯片的测试内容；
4.DFT的流程以及每步做的事情；
来自【爱芯人/QQ群187291154】
-
1试看 -
2
扫码加入
扫码加入
22
扫码加入从全局出发，介绍：
1.测试以及DFT的基本概念、理论基础；
2.DFT工作在芯片设计中的位置；
3.测试一颗芯片的测试内容；
4.DFT的流程以及每步做的事情；
来自【爱芯人/QQ群187291154】
| 器件型号 | 数量 | 器件厂商 | 器件描述 | 数据手册 | ECAD模型 | 风险等级 | 参考价格 | 更多信息 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| HS3001 | 1 | Integrated Device Technology Inc | LGA-6, Cut Tape |
|
|
$6.75 | 查看 | |
| DS18B20Z | 1 | Rochester Electronics LLC | DIGITAL TEMP SENSOR-SERIAL, 12BIT(s), 0.50Cel, RECTANGULAR, SURFACE MOUNT, 0.150 INCH, SOIC-8 |
|
|
$9.21 | 查看 | |
| ADT7470ARQZ-REEL7 | 1 | Analog Devices Inc | Temperature Sensor Hub and Fan Controller |
|
|
$4.29 | 查看 |
人工客服
© 2010 - 2026 苏州灵动帧格网络科技有限公司 版权所有
ICP经营许可证 苏B2-20140176 | 苏ICP备14012660号-6 | 苏公网安备 32059002001874号
扫码关注
扫码加入
电子硬件助手
元器件查询
下载ECAD模型
