芯耀
从全局出发，介绍：
1.测试以及DFT的基本概念、理论基础；
2.DFT工作在芯片设计中的位置；
3.测试一颗芯片的测试内容；
4.DFT的流程以及每步做的事情；
来自【爱芯人/QQ群187291154】
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扫码加入从全局出发，介绍：
1.测试以及DFT的基本概念、理论基础；
2.DFT工作在芯片设计中的位置；
3.测试一颗芯片的测试内容；
4.DFT的流程以及每步做的事情；
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| 器件型号 | 数量 | 器件厂商 | 器件描述 | 数据手册 | ECAD模型 | 风险等级 | 参考价格 | 更多信息 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| LM35CAZ/LFT4 | 1 | Texas Instruments | 1C high voltage analog temperature sensor, 10 mV/C 3-TO-92 |
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暂无数据 | 查看 | |
| MPXV5100DP | 1 | NXP Semiconductors | DIFFERENTIAL, PEIZORESISTIVE PRESSURE SENSOR, 0-14.5Psi, 2.5%, 0.20-4.70V, SQUARE, SURFACE MOUNT |
|
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$23.78 | 查看 | |
| DS1821S | 1 | Dallas Semiconductor | Serial Switch/Digital Sensor, 8 Bit(s), 1Cel, Rectangular, 8 Pin, Surface Mount, 0.208 INCH, SOIC-8 |
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$5.4 | 查看 |
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