从全局出发,介绍:
1.测试以及DFT的基本概念、理论基础;
2.DFT工作在芯片设计中的位置;
3.测试一颗芯片的测试内容;
4.DFT的流程以及每步做的事情;
来自【爱芯人/QQ群187291154】
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1.测试以及DFT的基本概念、理论基础;
2.DFT工作在芯片设计中的位置;
3.测试一颗芯片的测试内容;
4.DFT的流程以及每步做的事情;
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| 器件型号 | 数量 | 器件厂商 | 器件描述 | 数据手册 | ECAD模型 | 风险等级 | 参考价格 | 更多信息 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| TCRT5000 | 1 | Atmel Corporation | Diffuse Photoelectric Sensor, 12mm Min, 12mm Max, 0.50-1.60mA, Rectangular, Through Hole Mount, |
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$1.51 | 查看 | |
| LM335Z | 1 | STMicroelectronics | Precision Temperature Sensor |
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$0.3 | 查看 | |
| AD7814ARMZ-REEL | 1 | Analog Devices Inc | Temperature Sensor: 10-Bit Digital in 6-Lead SOT-23 |
|
|
$3.5 | 查看 |
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