FXOS8700CQ数据手册勘误表 - 勘误

本勘误表描述了此文档发布日期时已知的功能问题。 以下勘误影响所有生产的FXOS8700。

E1: 使用CTRL_REG2（0x2B），位6进行SPI模式软复位

问题：在通过设置CTRL_REG2[rst] = 1发出软复位命令后，某些设备特定参数无法从NVM正确更新，导致数据输出不准确并且WHOAMI (0x0D) 寄存器内容错误。此行为仅在SPI模式下发生。在I2C模式下，设备正常工作。

解决方法：与此勘误相关的解决方法之一是： 在SPI模式下避免使用软复位，而是交替使用硬件RESET引脚。

E2: I2C/AFE耦合噪声

问题：存在一个定时冲突，I2C总线信号被耦合到磁力计的模拟前端（AFE）中，产生超过设备噪声规格的噪声。该问题仅在AFE和I2C信号同时活动时发生（在轮询方法中）。产生的噪声是具有可重复幅度（在静态环境中）的瞬态噪声，范围为20-70 μTesla（从名义输出样本）。该效应主要观察到x轴和y轴上，对z轴的影响微不足道。

影响 在定时冲突期间，采样数据的准确性无法保证。在此事件期间的瞬态输出是不可预测的，并且不能简单地通过过采样消除，因为噪声的幅度和频率是随机的。这种数据可能会对磁力计输出的使用产生负面影响。

解决方法 与此勘误相关的一个解决方法是： 确保I2C信号和磁力计的AFE之间不存在定时冲突。

• 在使用I2C与FXOS8700通信时，始终使用数据就绪中断功能。使用数据就绪中断只在进行采样后才启动I2C事务。
• 编程微控制器单元（MCU）以快速服务和执行中断，避免在下一个采样周期内磁力计的AFE处于活动状态时仍然存在激活的I2C事务。