LD长条芯片外观检查设备调研

LD激光器芯片N面P面以及两个端面，都很容易收到破坏或者污染，因此脏污检查就十分有必要。人工检查很难看到芯片端面，就需要把芯片抓起来四周查看。因此需要自动化的设备。

针对你 1500μm×400μm 边发射 LD 长条芯片，其分选设备选型 + 链接 + 配置要点

一、首选机型（边发射 LD 长条专用）

1. 智立方 DS‑FC200（最匹配）

适配：1.5mm×0.4mm 长条边发射 LD、GaAs 芯片

核心优势：长条芯片专用吸嘴与取放机构，防崩边、防断裂恒力控制（≤5g），适配薄脆 GaAs 芯片支持 0°/90°/180° 翻转，满足 LD 芯片正反面检测AOI：检测崩边、缺角、划痕、脏污

精度：XY±10μm，角度 ±0.3°UPH：约 3,000–5,000 pcs/h（长条芯片）官网：https://www.incubecn.com/

2. MPI PA Sorter（进口高端，光电一体）

适配：FP/DFB 边发射 LD、GaAs 芯片

核心优势：光电一体（LIV+AOI + 分选），适合高端产线长条芯片专用夹具，定位精准行业标杆，稳定性强

精度：±1.5μm官网：https://www.mpi-corporation.cn/pa/products/sorter-series/

3. 易捷测试 RX2000‑AOI（国产高性价比）

适配：GaAs 长条 LD、薄芯片

核心优势：恒力取放，兼容长条异形芯片AOI 六面检测，适合外观分选

官网：https://www.gbit.net.cn/index.php?c=show&id=295

二、选型必看配置（针对 1.5mm×0.4mm LD）

吸嘴：必须选 长条专用吸嘴（宽度≤400μm），避免芯片断裂

取放力：≤5g 恒力控制，GaAs 芯片易碎

视觉：上下双视野，长边定位优先

载具：兼容蓝膜晶圆、Gel Pack、JEDEC 托盘

功能：优先选 AOI + 翻转，边发射 LD 需检测正反面

三、选型结论

中高端量产 → 选 智立方 DS‑FC200（长条 LD 专用，性价比最高）

高端研发 / 光电一体 → 选 MPI PA Sorter

纯外观分选、预算有限 → 选 易捷 RX2000‑AOI