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钴在半导体制造中的应用

07/15 08:03
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钴(Co)在半导体制造里的应用比很多人想象的要广,而且是随着制程推进逐步扩大的。它不只是"下一代互连金属",在硅化物、接触、互连、衬垫层、甚至磁性存储等多个环节都有关键作用。

局部互连(Local Interconnect / MOL)——先进节点应用

背景:在器件层和上层铜互连之间,有一层中段制程(MOL, Middle-of-Line)的局部互连,连接相邻的器件、栅极等,线宽极细。

钴的应用:这层局部互连线宽最细,铜在这里的阻挡层占比和尺寸效应问题最严重。所以钴被用于最底层的局部互连,钴替代铜/钨做这些最细的局部连线;

接触层(Contact)

背景:晶体管做好后,要通过接触孔(contact)把器件连接到上层金属互连。传统接触孔用钨(W)填充,钨需要一层钛/氮化钛(Ti/TiN)阻挡层。

钴的应用:在 10nm/7nm 及以下节点,接触孔变得极细,钨 + 阻挡层的方案遇到瓶颈(阻挡层占空间、钨电阻上升)。于是钴被用来替代钨做接触填充.

钴硅化物

这是钴在半导体里最早、最经典的应用,用了很多年。

背景:晶体管的源极、漏极、栅极和金属接触之间,需要一层硅化物(silicide)来降低接触电阻。硅化物是金属和硅反应生成的化合物,导电性好、接触电阻低。

钴硅化物(CoSi₂)的应用:在 0.18μm 到 90nm/65nm 这几代工艺,钴硅化物(CoSi₂)是主流的硅化物材料,用于源漏和栅极的自对准硅化物(salicide)工艺。

铜互连的衬垫层

背景:铜互连需要阻挡层(TaN)+ 衬垫层(liner)。衬垫层的作用是改善铜的附着、填充和可靠性。传统用钽(Ta)做衬垫层。

钴的应用:钴被用作铜的衬垫层(Co liner),替代或补充钽,这是钴在先进铜互连里很广泛的一个应用,从 22nm/14nm 就开始用,比钴做主互连金属更早、更普遍。

钴覆盖层 / 帽层(Cobalt Cap)——提高铜可靠性

背景:铜互连做好后,铜的顶部需要一层覆盖层(cap)来防止铜扩散、提高电迁移可靠性。

钴的应用:用选择性沉积的钴帽层(Co cap / CoWP 等)覆盖在铜线顶部:

磁性存储(MRAM 等)——钴的磁性应用

除了导电用途,钴还是磁性材料,在新型存储器里有应用:

MRAM(磁性随机存储器)的磁隧道结(MTJ)里,钴基合金(如 CoFeB)是关键的磁性层,用来存储磁化状态(即数据);

钴的铁磁性和自旋特性,使它成为自旋电子学(spintronics)器件的重要材料。

对比:钴用在哪、为什么?

应用 作用 为什么用钴 节点
钴硅化物 CoSi₂ 降低源漏/栅接触电阻 低电阻、热稳定、细线不退化 0.18μm~65nm
接触填充 连接器件到互连 极细孔里优于钨+阻挡层 10nm/7nm 以下
局部互连 最细的器件间连线 细线电阻恶化小、抗电迁移 7nm 以下
铜衬垫层 改善铜填充/可靠性 界面好、抗电迁移 22nm/14nm 起
铜帽层 封铜、提高可靠性 选择性沉积、抗电迁移 先进节点
MRAM 磁性层 存储磁化状态 铁磁性、自旋特性 新型存储

 

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