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AN1181应用指南-静电放电敏感性测量

2023/04/25
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AN1181应用指南-静电放电敏感性测量

本应用指南描述了一种确定微控制器设备对静电放电(ESD)损坏的敏感性的步骤。

1 参考文件

1.1 参考文件(ST内部参考)

■ 0061692“产品合格性可靠性测试规范”

■ SOP2614“产品合格性可靠性程序”

1.2 其他参考文献

■ CDF-AEC-Q100-002“人体模型ESD测试

■ CDF-AEC-Q100-003“机器模型ESD测试”

■ ESD协会标准草案DS5.3 - 1993电荷装置模型(CDM)组件测试的标准草案

■ ESD协会标准草案DS5.3.1 - 1996电荷装置模型(CDM)非插座模式

■ JEDEC标准JESD22-C101“场诱导电荷装置模型”

■ JEDEC标准JESD22-A114A“人体模型”

■ JEDEC标准JESD22-A115A“机器模型”

■ ESD协会标准草案DS5.2 - 1996“机器模型”

■ ESD协会标准ESD STM 5.1 - 1998“人体模型”

■ EIAJ临时标准EDX-4702“电荷装置模型”

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意法半导体主要提供MCU、MPU、传感器、功率器件、模拟芯片,核心产品/技术包括L6398高压栅极驱动;在低空经济产业链中覆盖安全芯片、功率半导体、惯性传感、环境传感、计算与控制芯片、模拟与电源芯片等。

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