随着芯片工艺向先进节点快速演进,制程节点不断逼近物理极限,良率损失问题以及良率提升“难”的问题,已经成为集成电路行业发展中必须面对的主要挑战。EDA作为集成电路产业链的一个环节,发挥着越来越重要的作用。作为国内集成电路良率管理领域的代表企业之一,东方晶源在EDA²主办的第四届设计自动化产业峰会IDAS 2026上,系统分享了近年来在AI赋能计算光刻与良率管理方向的最新技术进展——从Total Ma
近日,东方晶源凭借在计算光刻领域的核心技术壁垒与持续创新突破,与国内某先进存储厂商达成深度战略合作,并正式签署近2亿元的长期战略商业合同。此次合作中,东方晶源将基于自主研发的PanGen®计算光刻平台与全球首创的AI刻蚀模型PanGen vPWQ(Virtual Process Window Qualification)产品,助力客户加速先进存储工艺节点的开发与迭代,携手为我国半导体产业的自主创新
2026年3月25日—27日,半导体行业盛会SEMICON China 2026在上海新国际博览中心盛大启幕。展会汇聚产业链上下游企业与技术专家,聚焦AI智能应用、汽车芯片、先进封装等产业热点,成为全球半导体技术创新与产业合作的重要平台。东方晶源重磅参展,携电子束量检测系列硬件产品与AI赋能的EDA软件平台惊艳亮相,全面展示在电子束量检测、计算光刻、良率管理等领域的最新技术成果与解决方案,以软硬件
引言 当半导体制造工艺演进到22nm及以下节点时,随着多重图形技术的引入,对不同工艺层之间套刻(Overlay)误差的要求变得越来越高。套刻测量技术可分为基于像面图像识别测量技术和基于衍射原理的DBO(Diffraction Based Overlay)测量技术。相比于基于图像识别的方法,基于衍射的套刻误差测量具有更好的测量结果重复性、更低的设备引起测量误差TIS(Tool Introduced
2024年3月20日至2024年3月22日,半导体行业盛会SEMICON China 2024在上海新国际博览中心举办,为业界呈现一个全面覆盖最新技术热点的半导体行业盛会。作为国内集成电路领域良率管理领军企业,东方晶源携产品矩阵亮相大会,向业界全面展现公司在电子束检测量测、芯片制造EDA工具等领域的新产品、新成果、新突破,彰显出以持续创新引领行业发展的技术实力和创新活力。 为期三天的展会上,东方晶